Skip to main content Skip to footer
HomeHome
 
  • Startseite
  • Patentrecherche

    Patentwissen

    Unsere Patentdatenbanken und Recherchetools

    Zur Übersicht 

    • Übersicht
    • Technische Information
      • Übersicht
      • Espacenet - Patentsuche
      • Europäischer Publikationsserver
      • EP-Volltextrecherche
    • Rechtliche Information
      • Übersicht
      • Europäisches Patentregister
      • Europäisches Patentblatt
      • European Case Law Identifier Sitemap
      • Einwendungen Dritter
    • Geschäftsinformationen
      • Übersicht
      • PATSTAT
      • IPscore
      • Technologieanalyseberichte
    • Daten
      • Übersicht
      • Technology Intelligence Platform
      • Linked open EP data
      • Massendatensätze
      • Web-Dienste
      • Datenbestände, Codes und Statistiken
    • Technologieplattformen
      • Übersicht
      • Kunststoffe im Wandel
      • Innovationen im Wassersektor
      • Innovationen im Weltraumsektor
      • Technologien zur Bekämpfung von Krebs
      • Technologien zur Brandbekämpfung
      • Saubere Energietechnologien
      • Kampf gegen Corona
    • Nützliche Informationsquellen
      • Übersicht
      • Zum ersten Mal hier? Was ist Patentinformation?
      • Patentinformation aus Asien
      • Patentinformationszentren (PATLIB)
      • Patent Translate
      • Patent Knowledge News
      • Wirtschaft und Statistik
      • Patentinformationen rund um den einheitlichen Patentschutz
    Bild
    Plastics in Transition

    Technologieanalysebericht zur Plastikabfallwirtschaft

  • Anmelden eines Patents

    Anmelden eines Patents

    Praktische Informationen über Anmelde- und Erteilungsverfahren.

    Zur Übersicht 

    • Übersicht
    • Europäischer Weg
      • Übersicht
      • Leitfaden zum europäischen Patent
      • Einsprüche
      • Mündliche Verhandlung
      • Beschwerden
      • Einheitspatent & Einheitliches Patentgericht
      • Nationale Validierung
      • Antrag auf Erstreckung/Validierung
    • Internationaler Weg (PCT)
      • Übersicht
      • Euro-PCT-Leitfaden: PCT-Verfahren im EPA
      • Beschlüsse und Mitteilungen des EPA
      • PCT-Bestimmungen und Informationsquellen
      • Erstreckungs-/Validierungsantrag
      • Programm für verstärkte Partnerschaft
      • Beschleunigung Ihrer PCT-Anmeldung
      • Patent Prosecution Highway (PPH)
      • Schulungen und Veranstaltungen
    • Nationale Anmeldungen
    • Zugelassenen Vertreter suchen
    • MyEPO Services
      • Übersicht
      • Unsere Dienste verstehen
      • Zugriff erhalten
      • Bei uns einreichen
      • Akten interaktiv bearbeiten
      • Verfügbarkeit der Online-Dienste
    • Formblätter
      • Übersicht
      • Prüfungsantrag
    • Gebühren
      • Übersicht
      • Europäische Gebühren (EPÜ)
      • Internationale Gebühren (PCT)
      • Einheitspatentgebühren (UP)
      • Gebührenzahlung und Rückerstattung
      • Warnung

    UP

    Erfahren Sie, wie das Einheitspatent Ihre IP-Strategie verbessern kann

  • Recht & Praxis

    Recht & Praxis

    Europäisches Patentrecht, Amtsblatt und andere Rechtstexte

    Zur Übersicht 

    • Übersicht
    • Rechtstexte
      • Übersicht
      • Europäisches Patentübereinkommen
      • Amtsblatt
      • Richtlinien
      • Erstreckungs-/ Validierungssyste
      • Londoner Übereinkommen
      • Nationales Recht zum EPÜ
      • Système du brevet unitaire
      • Nationale Maßnahmen zum Einheitspatent
    • Gerichtspraxis
      • Übersicht
      • Symposium europäischer Patentrichter
    • Nutzerbefragungen
      • Übersicht
      • Laufende Befragungen
      • Abgeschlossene Befragungen
    • Harmonisierung des materiellen Patentrechts
      • Übersicht
      • The Tegernsee process
      • Gruppe B+
    • Konvergenz der Verfahren
    • Optionen für zugelassene Vertreter
    Bild
    Law and practice scales 720x237

    Informieren Sie sich über die wichtigsten Aspekte ausgewählter BK-Entscheidungen in unseren monatlichen „Abstracts of decisions“

  • Neues & Veranstaltungen

    Neues & Veranstaltungen

    Aktuelle Neuigkeiten, Podcasts und Veranstaltungen.

    Zur Übersicht 

     

    • Übersicht
    • News
    • Veranstaltungen
    • Europäischer Erfinderpreis
      • Übersicht
      • Die bedeutung von morgen
      • Über den Preis
      • Kategorien und Preise
      • Lernen Sie die Finalisten kennen
      • Nominierungen
      • European Inventor Network
      • Preisverleihung 2024
    • Young Inventor Prize
      • Übersicht
      • Über den Preis
      • Nominierungen
      • Die jury
      • Die Welt, neu gedacht
    • Pressezentrum
      • Übersicht
      • Patent Index und Statistiken
      • Pressezentrum durchsuchen
      • Hintergrundinformation
      • Copyright
      • Pressekontakt
      • Rückruf Formular
      • Presseinfos per Mail
    • Innovation und Patente im Blickpunkt
      • Übersicht
      • Water-related technologies
      • CodeFest
      • Green tech in focus
      • Forschungseinrichtungen
      • Women inventors
      • Lifestyle
      • Raumfahrt und Satelliten
      • Zukunft der Medizin
      • Werkstoffkunde
      • Mobile Kommunikation: Das große Geschäft mit kleinen Geräten
      • Biotechnologiepatente
      • Patentklassifikation
      • Digitale Technologien
      • Die Zukunft der Fertigung
      • Books by EPO experts
    • Podcast "Talk innovation"

    Podcast

    Von der Idee zur Erfindung: unser Podcast informiert Sie topaktuell in Sachen Technik und IP

  • Lernen

    Lernen

    Europäische Patentakademie – unser Kursportal für Ihre Fortbildung

    Zur Übersicht 

    • Übersicht
    • Schulungsaktivitäten und Lernpfade
      • Übersicht
      • Schulungsaktivitäten
      • Lernpfade
    • EEP und EPVZ
      • Übersicht
      • EEP – Europäische Eignungsprüfung
      • EPVZ – Europäisches Patentverwaltungszertifikat
      • CSP – Programm zur Unterstützung von Bewerbern
    • Lernmaterial nach Interesse
      • Übersicht
      • Patenterteilung
      • Technologietransfer und -verbreitung
      • Durchsetzung
    • Lernmaterial nach Profil
      • Übersicht
      • Geschäftswelt und IP
      • EEP und EPVZ Bewerber
      • Justiz
      • Nationale Ämter und IP-Behörden
      • Patentanwaltskanzleien
      • Lehre und Forschung
    Bild
    Patent Academy catalogue

    Werfen Sie einen Blick auf das umfangreiche Lernangebot im Schulungskatalog der Europäischen Patentakademie

  • Über uns

    Über uns

    Erfahren Sie mehr über Tätigkeit, Werte, Geschichte und Vision des EPA

    Zur Übersicht 

    • Übersicht
    • Das EPA auf einen Blick
    • 50 Jahre Europäisches Patentübereinkommen
      • Übersicht
      • Official celebrations
      • Member states’ video statements
      • 50 Leading Tech Voices
      • Athens Marathon
      • Kinderwettbewerb für kollektive Kunst
    • Rechtsgrundlagen und Mitgliedstaaten
      • Übersicht
      • Rechtsgrundlagen
      • Mitgliedstaaten der Europäischen Patentorganisation
      • Erstreckungsstaaten
      • Validierungsstaaten
    • Verwaltungsrat und nachgeordnete Organe
      • Übersicht
      • Kommuniqués
      • Kalender
      • Dokumente und Veröffentlichungen
      • Der Verwaltungsrat der Europäischen Patentorganisation
    • Unsere Grundsätze und Strategie
      • Übersicht
      • Auftrag, Vision und Werte
      • Strategischer Plan 2028
      • Auf dem Weg zu einer neuen Normalität
    • Führung und Management
      • Übersicht
      • Präsident António Campinos
      • Managementberatungsausschuss
    • Sustainability at the EPO
      • Übersicht
      • Environmental
      • Social
      • Governance and Financial sustainability
    • Dienste & Aktivitäten
      • Übersicht
      • Unsere Dienste & Struktur
      • Qualität
      • Nutzerkonsultation
      • Europäische und internationale Zusammenarbeit
      • Europäische Patentakademie
      • Chefökonom
      • Ombudsstelle
      • Meldung von Fehlverhalten
    • Beobachtungsstelle für Patente und Technologie
      • Übersicht
      • Akteure im Innovationsbereich
      • Politisches Umfeld und Finanzierung
      • Tools
      • Über die Beobachtungsstelle
    • Beschaffung
      • Übersicht
      • Beschaffungsprognose
      • Das EPA als Geschäftspartner
      • Beschaffungsverfahren
      • Nachhaltiger Beschaffungsstandard
      • Registrierung zum eTendering und elektronische Signaturen
      • Beschaffungsportal
      • Rechnungsstellung
      • Allgemeine Bedingungen
      • Archivierte Ausschreibungen
    • Transparenzportal
      • Übersicht
      • Allgemein
      • Humankapital
      • Umweltkapital
      • Organisationskapital
      • Sozial- und Beziehungskapital
      • Wirtschaftskapital
      • Governance
    • Statistics and trends
      • Übersicht
      • Statistics & Trends Centre
      • Patent Index 2024
      • EPO Data Hub
      • Clarification on data sources
    • Die Geschichte des EPA
      • Übersicht
      • 1970er-Jahre
      • 1980er-Jahre
      • 1990er-Jahre
      • 2000er-Jahre
      • 2010er-Jahre
      • 2020er Jahre
    • Die EPA Kunstsammlung
      • Übersicht
      • Die Sammlung
      • Let's talk about art
      • Künstler
      • Mediathek
      • What's on
      • Publikationen
      • Kontakt
      • Kulturraum A&T 5-10
      • "Lange Nacht"
    Bild
    Patent Index 2024 keyvisual showing brightly lit up data chip, tinted in purple, bright blue

    Verfolgen Sie die neuesten Technologietrends mit unserem Patentindex

 
Website
cancel
en de fr
  • Language selection
  • English
  • Deutsch
  • Français
Main navigation
  • Homepage
    • Go back
    • Sind Patente Neuland für Sie?
  • Sind Patente Neuland für Sie?
    • Go back
    • Patente für Ihr Unternehmen?
    • Warum ein Patent?
    • Was ist Ihre zündende Idee?
    • Sind Sie bereit?
    • Darum geht es
    • Der Weg zum Patent
    • Ist es patentierbar?
    • Ist Ihnen jemand zuvorgekommen?
    • Patentquiz
    • Video zum Einheitspatent
  • Patentrecherche
    • Go back
    • Übersicht
    • Technische Information
      • Go back
      • Übersicht
      • Espacenet - Patentsuche
        • Go back
        • Übersicht
        • Datenbanken der nationalen Ämter
        • Global Patent Index (GPI)
        • Versionshinweise
      • Europäischer Publikationsserver
        • Go back
        • Übersicht
        • Versionshinweise
        • Konkordanzliste für Euro-PCT-Anmeldungen
        • EP-Normdatei
        • Hilfe
      • EP-Volltextrecherche
    • Rechtliche Information
      • Go back
      • Übersicht
      • Europäisches Patentregister
        • Go back
        • Übersicht
        • Versionshinweise: Archiv
        • Dokumentation zu Register
          • Go back
          • Übersicht
          • Datenverfügbarkeit für Deep Links
          • Vereinigtes Register
          • Ereignisse im Register
      • Europäisches Patentblatt
        • Go back
        • Übersicht
        • Patentblatt herunterladen
        • Recherche im Europäischen Patentblatt
        • Hilfe
      • European Case Law Identifier Sitemap
      • Einwendungen Dritter
    • Geschäftsinformationen
      • Go back
      • Übersicht
      • PATSTAT
      • IPscore
        • Go back
        • Versionshinweise
      • Technologieanalyseberichte
    • Daten
      • Go back
      • Übersicht
      • Technology Intelligence Platform
      • Linked open EP data
      • Massendatensätze
        • Go back
        • Übersicht
        • Manuals
        • Sequenzprotokolle
        • Nationale Volltextdaten
        • Daten des Europäischen Patentregisters
        • Weltweite bibliografische Daten des EPA (DOCDB)
        • EP-Volltextdaten
        • Weltweite Rechtsereignisdaten des EPA (INPADOC)
        • Bibliografische Daten von EP-Dokumenten (EBD)
        • Entscheidungen der Beschwerdekammern des EPA
      • Web-Dienste
        • Go back
        • Übersicht
        • Open Patent Services (OPS)
        • Europäischer Publikationsserver (Web-Dienst)
      • Datenbestände, Codes und Statistiken
        • Go back
        • Wöchentliche Aktualisierungen
        • Regelmäßige Aktualisierungen
    • Technologieplattformen
      • Go back
      • Kunststoffe im Wandel
        • Go back
        • Overview
        • Verwertung von Plastikabfällen
        • Recycling von Plastikabfällen
        • Alternative Kunststoffe
      • Übersicht
      • Innovative Wassertechnologien
        • Go back
        • Overview
        • Sauberes Wasser
        • Schutz vor Wasser
      • Innovationen im Weltraumsektor
        • Go back
        • Übersicht
        • Kosmonautik
        • Weltraumbeobachtung
      • Technologien zur Bekämpfung von Krebs
        • Go back
        • Übersicht
        • Prävention und Früherkennung
        • Diagnostik
        • Therapien
        • Wohlergehen und Nachsorge
      • Technologien zur Brandbekämpfung
        • Go back
        • Übersicht
        • Branderkennung und -verhütung
        • Feuerlöschen
        • Schutzausrüstung
        • Technologien für die Sanierung nach Bränden
      • Saubere Energietechnologien
        • Go back
        • Übersicht
        • Erneuerbare Energien
        • CO2-intensive Industrien
        • Energiespeicherung und andere Enabling-Technologien
      • Kampf gegen Corona
        • Go back
        • Übersicht
        • Impfstoffe und Therapeutika
          • Go back
          • Übersicht
          • Impfstoffe
          • Übersicht über Therapieansätze für COVID-19
          • Kandidaten für antivirale Therapeutika
          • Nukleinsäuren zur Behandlung von Coronavirus-Infektionen
        • Diagnose und Analyse
          • Go back
          • Übersicht
          • Protein-und Nukleinsäure-Nachweis
          • Analyseprotokolle
        • Informatik
          • Go back
          • Übersicht
          • Bioinformatik
          • Medizinische Informatik
        • Technologien für die neue Normalität
          • Go back
          • Übersicht
          • Geräte, Materialien und Ausrüstung
          • Verfahren, Maßnahmen und Aktivitäten
          • Digitale Technologien
        • Erfinderinnen und Erfinder gegen das Coronavirus
    • Nützliche Informationsquellen
      • Go back
      • Übersicht
      • Zum ersten Mal hier? Was ist Patentinformation?
        • Go back
        • Übersicht
        • Grundlegende Definitionen
        • Patentklassifikation
          • Go back
          • Übersicht
          • Gemeinsame Patentklassifikation
        • Patentfamilien
          • Go back
          • Übersicht
          • Einfache DOCDB Patentfamilie
          • Erweiterte INPADOC Patentfamilie
        • Daten zu Rechtsstandsereignissen
          • Go back
          • Übersicht
          • INPADOC-Klassifikationssystem
      • Patentinformation aus Asien
        • Go back
        • Übersicht
        • China (CN)
          • Go back
          • Übersicht
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Chinesisch-Taipei (TW)
          • Go back
          • Übersicht
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Indien (IN)
          • Go back
          • Übersicht
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
        • Japan (JP)
          • Go back
          • Übersicht
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Korea (KR)
          • Go back
          • Übersicht
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Russische Föderation (RU)
          • Go back
          • Übersicht
          • Facts and figures
          • Numbering system
          • Searching in databases
        • Useful links
      • Patentinformationszentren (PATLIB)
      • Patent Translate
      • Patent Knowledge News
      • Wirtschaft und Statistik
      • Patentinformationen rund um den einheitlichen Patentschutz
  • Anmelden eines Patents
    • Go back
    • Übersicht
    • Europäischer Weg
      • Go back
      • Übersicht
      • Leitfaden zum europäischen Patent
      • Einsprüche
      • Mündliche Verhandlung
        • Go back
        • Kalender der mündlichen Verhandlungen
          • Go back
          • Kalender der mündlichen Verhandlungen
          • Technische Richtlinien
          • Zugang für die Öffentlichkeit zum Beschwerdeverfahren
          • Zugang für die Öffentlichkeit zum Einspruchsverfahren
      • Beschwerden
      • Einheitspatent & Einheitliches Patentgericht
        • Go back
        • Einheitspatent
          • Go back
          • Übersicht
          • Rechtlicher Rahmen
          • Wesentliche Merkmale
          • Beantragung eines Einheitspatents
          • Kosten eines Einheitspatents
          • Übersetzungsregelungen und Kompensationssystem
          • Starttermin
          • Introductory brochures
        • Übersicht
        • Einheitliches Patentgericht
      • Nationale Validierung
      • Erstreckungs- /Validierungsantrag
    • Internationaler Weg
      • Go back
      • Übersicht
      • Euro-PCT-Leitfaden
      • Eintritt in die europäische Phase
      • Beschlüsse und Mitteilungen
      • PCT-Bestimmungen und Informationsquellen
      • Erstreckungs-/Validierungsantrag
      • Programm für verstärkte Partnerschaft
      • Beschleunigung Ihrer PCT-Anmeldung
      • Patent Prosecution Highway (PPH)
        • Go back
        • Programm "Patent Prosecution Highway" (PPH) - Übersicht
      • PCT: Schulungen und Veranstaltungen
    • Nationaler Weg
    • MyEPO Services
      • Go back
      • Übersicht
      • Unsere Dienste verstehen
        • Go back
        • Übersicht
        • Exchange data with us using an API
          • Go back
          • Versionshinweise
      • Zugriff erhalten
        • Go back
        • Übersicht
        • Versionshinweise
      • Bei uns einreichen
        • Go back
        • Bei uns einreichen
        • Wenn unsere Dienste für die Online-Einreichung ausfallen
        • Versionshinweise
      • Akten interaktiv bearbeiten
        • Go back
        • Versionshinweise
      • Verfügbarkeit der Online-Dienste
    • Gebühren
      • Go back
      • Übersicht
      • Europäische Gebühren (EPÜ)
        • Go back
        • Übersicht
        • Beschlüsse und Mitteilungen
      • Internationale Gebühren (PCT)
        • Go back
        • Ermäßigung der Gebühren
        • Gebühren für internationale Anmeldungen
        • Beschlüsse und Mitteilungen
        • Übersicht
      • Einheitspatentgebühren (UP)
        • Go back
        • Übersicht
        • Beschlüsse und Mitteilungen
      • Gebührenzahlung und Rückerstattung
        • Go back
        • Übersicht
        • Zahlungsarten
        • Erste Schritte
        • FAQs und sonstige Anleitungen
        • Technische Informationen für Sammelzahlungen
        • Beschlüsse und Mitteilungen
        • Versionshinweise
      • Warnung
    • Formblätter
      • Go back
      • Prüfungsantrag
      • Übersicht
    • Zugelassenen Vertreter suchen
  • Recht & Praxis
    • Go back
    • Übersicht
    • Rechtstexte
      • Go back
      • Übersicht
      • Europäisches Patentübereinkommen
        • Go back
        • Übersicht
        • Archiv
          • Go back
          • Übersicht
          • Dokumentation zur EPÜ-Revision 2000
            • Go back
            • Übersicht
            • Diplomatische Konferenz für die Revision des EPÜ
            • "Travaux préparatoires" (Vorarbeiten)
            • Neufassung
            • Übergangsbestimmungen
            • Ausführungsordnung zum EPÜ 2000
            • Gebührenordnung
            • Ratifikationen und Beitritte
          • Travaux Préparatoires EPÜ 1973
      • Amtsblatt
      • Richtlinien
        • Go back
        • Übersicht
        • EPÜ Richtlinien
        • PCT-EPA Richtlinien
        • Richtlinien für das Einheitspatent
        • Überarbeitung der Richtlinien
        • Ergebnisse der Konsultation
        • Zusammenfassung der Nutzerbeiträge
        • Archiv
      • Erstreckungs-/Validierungssystem
      • Londoner Übereinkommen
      • Nationales Recht zum EPÜ
        • Go back
        • Übersicht
        • Archiv
      • Einheitspatentsystem
        • Go back
        • Travaux préparatoires to UP and UPC
      • Nationale Maßnahmen zum Einheitspatent
    • Gerichtspraxis
      • Go back
      • Übersicht
      • Symposium europäischer Patentrichter
    • Nutzerbefragungen
      • Go back
      • Übersicht
      • Laufende Befragungen
      • Abgeschlossene Befragungen
    • Harmonisierung des materiellen Patentrechts
      • Go back
      • Übersicht
      • The Tegernsee process
      • Gruppe B+
    • Konvergenz der Verfahren
    • Optionen für zugelassene Vertreter
  • Neues & Veranstaltungen
    • Go back
    • Übersicht
    • News
    • Veranstaltungen
    • Europäischer Erfinderpreis
      • Go back
      • The meaning of tomorrow
      • Übersicht
      • Über den Preis
      • Kategorien und Preise
      • Lernen Sie die Erfinder kennen
      • Nominierungen
      • European Inventor Network
        • Go back
        • 2024 activities
        • 2025 activities
        • Rules and criteria
        • FAQ
      • Preisverleihung 2024
    • Young Inventors Prize
      • Go back
      • Übersicht
      • Über den Preis
      • Nominierungen
      • Die Jury
      • Die Welt, neu gedacht
      • Preisverleihung 2025
    • Pressezentrum
      • Go back
      • Übersicht
      • Patent Index und Statistiken
      • Pressezentrum durchsuchen
      • Hintergrundinformation
        • Go back
        • Übersicht
        • Europäisches Patentamt
        • Fragen und Antworten zu Patenten im Zusammenhang mit dem Coronavirus
        • Fragen und Antworten zu Pflanzenpatenten
      • Copyright
      • Pressekontakt
      • Rückruf Formular
      • Presseinfos per Mail
    • Im Blickpunkt
      • Go back
      • Übersicht
      • Wasserbezogene Technologien
      • CodeFest
        • Go back
        • CodeFest Spring 2025 on classifying patent data for sustainable development
        • Übersicht
        • CodeFest 2024 zu generativer KI
        • Codefest 2023 zu grünen Kunststoffen
      • Green tech in focus
        • Go back
        • Übersicht
        • About green tech
        • Renewable energies
        • Energy transition technologies
        • Building a greener future
      • Forschungseinrichtungen
      • Women inventors
      • Lifestyle
      • Raumfahrt und Satelliten
        • Go back
        • Weltraumtechnologie und Patente
        • Übersicht
      • Gesundheit
        • Go back
        • Übersicht
        • Medizintechnik und Krebs
        • Personalised medicine
      • Werkstoffkunde
        • Go back
        • Übersicht
        • Nanotechnologie
      • Mobile Kommunikation
      • Biotechnologie
        • Go back
        • Rot, weiß oder grün
        • Übersicht
        • Die Rolle des EPA
        • Was ist patentierbar?
        • Biotechnologische Erfindungen und ihre Erfinder
      • Patentklassifikation
        • Go back
        • Übersicht
        • Nanotechnology
        • Climate change mitigation technologies
          • Go back
          • Übersicht
          • External partners
          • Updates on Y02 and Y04S
      • Digitale Technologien
        • Go back
        • Übersicht
        • Über IKT
        • Hardware und Software
        • Künstliche Intelligenz
        • Vierte Industrielle Revolution
      • Additive Fertigung
        • Go back
        • Übersicht
        • Die additive Fertigung
        • Innovation durch AM
      • Books by EPO experts
    • Podcast
  • Lernen
    • Go back
    • Übersicht
    • Schulungsaktivitäten und Lernpfade
      • Go back
      • Übersicht
      • Schulungsaktivitäten: Arten und Formate
      • Lernpfade
    • EEP und EPVZ
      • Go back
      • Übersicht
      • EEP – Europäische Eignungsprüfung
        • Go back
        • Übersicht
        • Compendium
          • Go back
          • Übersicht
          • Aufgabe F
          • Aufgabe A
          • Aufgabe B
          • Aufgabe C
          • Aufgabe D
          • Vorprüfung
        • Erfolgreiche Bewerber
        • Archiv
      • EPVZ – Europäisches Patentverwaltungszertifikat
      • CSP – Programm zur Unterstützung von Bewerbern
    • Angebot für bestimmte Interessengebiete
      • Go back
      • Übersicht
      • Patenterteilung
      • Technologietransfer und -verbreitung
      • Patentdurchsetzung und Streitregelung
    • Angebot für bestimmte Zielgruppen
      • Go back
      • Übersicht
      • Geschäftswelt und IP
        • Go back
        • Übersicht
        • Innovation case studies
          • Go back
          • Overview
          • SME case studies
          • Fallstudien zum Technologietransfer
          • Fallstudien zu wachstumsstarken Technologien
        • Inventor's handbook
          • Go back
          • Übersicht
          • Introduction
          • Disclosure and confidentiality
          • Novelty and prior art
          • Competition and market potential
          • Assessing the risk ahead
          • Proving the invention
          • Protecting your idea
          • Building a team and seeking funding
          • Business planning
          • Finding and approaching companies
          • Dealing with companies
        • Best of search matters
          • Go back
          • Übersicht
          • Tools and databases
          • EPO procedures and initiatives
          • Search strategies
          • Challenges and specific topics
        • Support for high-growth technology businesses
          • Go back
          • Übersicht
          • Business decision-makers
          • IP professionals
          • Stakeholders of the Innovation Ecosystem
      • EEP und EPVZ Bewerber
        • Go back
        • Übersicht
        • Denkaufgaben zu Aufgabe F
        • Tägliche Fragen zur Aufgabe D
        • Europäische Eignungsprüfung - Leitfaden zur Vorbereitung
        • EPVZ
      • Richter, Anwälte und Staatsanwälte
        • Go back
        • Übersicht
        • Compulsory licensing in Europe
        • Die Zuständigkeit europäischer Gerichte bei Patentstreitigkeiten
      • Nationale Ämter und IP-Behörden
        • Go back
        • Übersicht
        • Lernpfad für Patentprüfer der nationalen Ämter
        • Lernpfad für Formalsachbearbeiter und Paralegals
      • Patentanwaltskanzleien
      • Hochschulen, Forschungseinrichtungen und Technologietransferstellen
        • Go back
        • Übersicht
        • Modularer IP-Ausbildungsrahmen (MIPEF)
        • Programm "Pan-European-Seal für junge Fachkräfte"
          • Go back
          • Übersicht
          • Für Studierende
          • Für Hochschulen
            • Go back
            • Übersicht
            • IP-Schulungsressourcen
            • Hochschulmitgliedschaften
          • Unsere jungen Fachkräfte
          • Beruflicher Entwicklungsplan
        • Akademisches Forschungsprogramm (ARP)
          • Go back
          • Übersicht
          • Abgeschlossene Forschungsprojekte
          • Laufende Forschungsprojekte
        • IP Teaching Kit
          • Go back
          • Übersicht
          • Download modules
        • Handbuch für die Gestaltung von IP-Kursen
        • PATLIB Wissenstransfer nach Afrika
          • Go back
          • Die PATLIB-Initiative "Wissenstransfer nach Afrika" (KT2A)
          • KT2A-Kernaktivitäten
          • Erfolgsgeschichte einer KT2A-Partnerschaft: PATLIB Birmingham und Malawi University of Science and Technology
  • Über uns
    • Go back
    • Übersicht
    • Das EPA auf einen Blick
    • 50 Jahre EPÜ
      • Go back
      • Official celebrations
      • Übersicht
      • Member states’ video statements
        • Go back
        • Albania
        • Austria
        • Belgium
        • Bulgaria
        • Croatia
        • Cyprus
        • Czech Republic
        • Denmark
        • Estonia
        • Finland
        • France
        • Germany
        • Greece
        • Hungary
        • Iceland
        • Ireland
        • Italy
        • Latvia
        • Liechtenstein
        • Lithuania
        • Luxembourg
        • Malta
        • Monaco
        • Montenegro
        • Netherlands
        • North Macedonia
        • Norway
        • Poland
        • Portugal
        • Romania
        • San Marino
        • Serbia
        • Slovakia
        • Slovenia
        • Spain
        • Sweden
        • Switzerland
        • Türkiye
        • United Kingdom
      • 50 Leading Tech Voices
      • Athens Marathon
      • Kinderwettbewerb für kollektive Kunst
    • Rechtsgrundlagen und Mitgliedstaaten
      • Go back
      • Übersicht
      • Rechtsgrundlagen
      • Mitgliedstaaten
        • Go back
        • Übersicht
        • Mitgliedstaaten sortiert nach Beitrittsdatum
      • Erstreckungsstaaten
      • Validierungsstaaten
    • Verwaltungsrat und nachgeordnete Organe
      • Go back
      • Übersicht
      • Kommuniqués
        • Go back
        • 2024
        • Übersicht
        • 2023
        • 2022
        • 2021
        • 2020
        • 2019
        • 2018
        • 2017
        • 2016
        • 2015
        • 2014
        • 2013
      • Kalender
      • Dokumente und Veröffentlichungen
        • Go back
        • Übersicht
        • Dokumente des Engeren Ausschusses
      • Verwaltungsrat
        • Go back
        • Übersicht
        • Zusammensetzung
        • Vertreter
        • Geschäftsordnung
        • Kollegium der Rechnungsprüfer
        • Sekretariat
        • Nachgeordnete Organe
    • Grundsätze
      • Go back
      • Übersicht
      • Auftrag, Vision und Werte
      • Strategieplan 2028
        • Go back
        • Treiber 1: Personal
        • Treiber 2: Technologien
        • Treiber 3: Qualitativ hochwertige Produkte und Dienstleistungen
        • Treiber 4: Partnerschaften
        • Treiber 5: Finanzielle Nachhaltigkeit
      • Auf dem Weg zu einer neuen Normalität
      • Datenschutzerklärung
    • Führung und Management
      • Go back
      • Übersicht
      • Über den Präsidenten
      • Managementberatungsausschuss
    • Nachhaltigkeit beim EPA
      • Go back
      • Overview
      • Umwelt
        • Go back
        • Overview
        • Inspirierende Erfindungen für die Umwelt
      • Soziales
        • Go back
        • Overview
        • Inspirierende soziale Erfindungen
      • Governance und finanzielle Nachhaltigkeit
    • Beschaffung
      • Go back
      • Übersicht
      • Beschaffungsprognose
      • Das EPA als Geschäftspartner
      • Beschaffungsverfahren
      • Veröffentlichungen des Dynamischen Beschaffungssystems
      • Nachhaltiger Beschaffungsstandard
      • Über eTendering
      • Rechnungsstellung
      • Beschaffungsportal
        • Go back
        • Übersicht
        • Elektronische Signatur von Verträgen
      • Allgemeine Bedingungen
      • Archivierte Ausschreibungen
    • Dienste & Aktivitäten
      • Go back
      • Übersicht
      • Unsere Dienste & Struktur
      • Qualität
        • Go back
        • Übersicht
        • Grundlagen
          • Go back
          • Übersicht
          • Europäisches Patentübereinkommen
          • Richtlinien für die Prüfung
          • Unsere Bediensteten
        • Qualität ermöglichen
          • Go back
          • Übersicht
          • Stand der Technik
          • Klassifikationssystem
          • Tools
          • Qualitätssicherung
        • Produkte & Dienstleistungen
          • Go back
          • Übersicht
          • Recherche
          • Prüfung
          • Einspruch
          • Fortlaufende Verbesserung
        • Qualität durch Netzwerke
          • Go back
          • Übersicht
          • Nutzerengagement
          • Zusammenarbeit
          • Befragung zur Nutzerzufriedenheit
          • Stakeholder-Qualitätssicherungspanels
        • Charta für Patentqualität
        • Qualitätsaktionsplan
        • Qualitäts-Dashboard
        • Statistik
          • Go back
          • Übersicht
          • Recherche
          • Prüfung
          • Einspruch
        • Integriertes Management beim EPA
      • Charta unserer Kundenbetreuung
      • Nutzerkonsultation
        • Go back
        • Übersicht
        • Ständiger Beratender Ausschuss beim EPA
          • Go back
          • Übersicht
          • Ziele
          • Der SACEPO und seine Arbeitsgruppen
          • Sitzungen
          • Bereich für Delegierte
        • Befragungen
          • Go back
          • Übersicht
          • Methodik
          • Recherche
          • Sachprüfung, abschließende Aktionen und Veröffentlichung
          • Einspruch
          • Formalprüfung
          • Kundenbetreuung
          • Einreichung
          • Key Account Management (KAM)
          • EPA-Website
          • Archiv
      • Europäische und internationale Zusammenarbeit
        • Go back
        • Übersicht
        • Zusammenarbeit mit den Mitgliedstaaten
          • Go back
          • Übersicht
        • Bilaterale Zusammenarbeit mit Nichtmitgliedstaaten
          • Go back
          • Übersicht
          • Validierungssystem
          • Programm für verstärkte Partnerschaft
        • Internationale Organisationen, Trilaterale und IP5
        • Zusammenarbeit mit internationalen Organisationen außerhalb des IP-Systems
      • Europäische Patentakademie
        • Go back
        • Übersicht
        • Partner
      • Chefökonom
        • Go back
        • Übersicht
        • Wirtschaftliche Studien
      • Ombudsstelle
      • Meldung von Fehlverhalten
    • Beobachtungsstelle für Patente und Technologie
      • Go back
      • Übersicht
      • Innovation gegen Krebs
      • Akteure im Innovationsbereich
        • Go back
        • Übersicht
        • Start-ups und KMU
      • Politisches Umfeld und Finanzierung
        • Go back
        • Übersicht
        • Programm zur Innovationsfinanzierung
          • Go back
          • Übersicht
          • Unsere Studien zur Innovationsfinanzierung
          • EPA-Initiativen für Patentanmelder/innen
          • Programm zur Innovationsfinanzierung
        • Patente und Normen
          • Go back
          • Übersicht
          • Publikationen
          • Patent standards explorer
      • Tools
        • Go back
        • Übersicht
        • Deep Tech Finder
      • Über die Beobachtungsstelle
        • Go back
        • Übersicht
        • Arbeitsplan
    • Transparency portal
      • Go back
      • Übersicht
      • Allgemein
        • Go back
        • Übersicht
        • Annual Review 2023
          • Go back
          • Overview
          • Foreword
          • Executive summary
          • 50 years of the EPC
          • Strategic key performance indicators
          • Goal 1: Engaged and empowered
          • Goal 2: Digital transformation
          • Goal 3: Master quality
          • Goal 4: Partner for positive impact
          • Goal 5: Secure sustainability
        • Annual Review 2022
          • Go back
          • Übersicht
          • Foreword
          • Executive summary
          • Goal 1: Engaged and empowered
          • Goal 2: Digital transformation
          • Goal 3: Master quality
          • Goal 4: Partner for positive impact
          • Goal 5: Secure sustainability
      • Humankapital
      • Umweltkapital
      • Organisationskapital
      • Sozial- und Beziehungskapital
      • Wirtschaftskapital
      • Governance
    • Statistics and trends
      • Go back
      • Übersicht
      • Statistics & Trends Centre
      • Patent Index 2024
        • Go back
        • Insight into computer technology and AI
        • Insight into clean energy technologies
        • Statistics and indicators
          • Go back
          • European patent applications
            • Go back
            • Key trend
            • Origin
            • Top 10 technical fields
              • Go back
              • Computer technology
              • Electrical machinery, apparatus, energy
              • Digital communication
              • Medical technology
              • Transport
              • Measurement
              • Biotechnology
              • Pharmaceuticals
              • Other special machines
              • Organic fine chemistry
            • All technical fields
          • Applicants
            • Go back
            • Top 50
            • Categories
            • Women inventors
          • Granted patents
            • Go back
            • Key trend
            • Origin
            • Designations
      • Data to download
      • EPO Data Hub
      • Clarification on data sources
    • Geschichte
      • Go back
      • Übersicht
      • 1970er-Jahre
      • 1980er-Jahre
      • 1990er-Jahre
      • 2000er-Jahre
      • 2010er-Jahre
      • 2020er Jahre
    • Kunstsammlung
      • Go back
      • Übersicht
      • Die Sammlung
      • Let's talk about art
      • Künstler
      • Mediathek
      • What's on
      • Publikationen
      • Kontakt
      • Kulturraum A&T 5-10
        • Go back
        • Catalyst lab & Deep vision
          • Go back
          • Irene Sauter (DE)
          • AVPD (DK)
          • Jan Robert Leegte (NL)
          • Jānis Dzirnieks (LV) #1
          • Jānis Dzirnieks (LV) #2
          • Péter Szalay (HU)
          • Thomas Feuerstein (AT)
          • Tom Burr (US)
          • Wolfgang Tillmans (DE)
          • TerraPort
          • Unfinished Sculpture - Captives #1
          • Deep vision – immersive exhibition
          • Frühere Ausstellungen
        • The European Patent Journey
        • Sustaining life. Art in the climate emergency
        • Next generation statements
        • Open storage
        • Cosmic bar
      • "Lange Nacht"
  • Beschwerdekammern
    • Go back
    • Übersicht
    • Entscheidungen der Beschwerdekammern
      • Go back
      • Neue Entscheidungen
      • Übersicht
      • Ausgewählte Entscheidungen
    • Mitteilungen der Beschwerdekammern
    • Verfahren
    • Mündliche Verhandlungen
    • Über die Beschwerdekammern
      • Go back
      • Übersicht
      • Präsident der Beschwerdekammern
      • Große Beschwerdekammer
        • Go back
        • Übersicht
        • Pending referrals (Art. 112 EPC)
        • Decisions sorted by number (Art. 112 EPC)
        • Pending petitions for review (Art. 112a EPC)
        • Decisions on petitions for review (Art. 112a EPC)
      • Technische Beschwerdekammern
      • Juristische Beschwerdekammer
      • Beschwerdekammer in Disziplinarangelegenheiten
      • Präsidium
        • Go back
        • Übersicht
    • Verhaltenskodex
    • Geschäftsverteilungsplan
      • Go back
      • Übersicht
      • Technical boards of appeal by IPC in 2025
      • Archiv
    • Jährliche Liste der Verfahren
    • Mitteilungen
    • Jahresberichte
      • Go back
      • Übersicht
    • Veröffentlichungen
      • Go back
      • Abstracts of decisions
    • Rechtsprechung der Beschwerdekammern
      • Go back
      • Übersicht
      • Archiv
  • Service & Unterstützung
    • Go back
    • Übersicht
    • Aktualisierungen der Website
    • Verfügbarkeit der Online-Dienste
      • Go back
      • Übersicht
    • FAQ
      • Go back
      • Übersicht
    • Veröffentlichungen
    • Bestellung
      • Go back
      • Patentwissen – Produkte und Dienste
      • Übersicht
      • Allgemeine Geschäftsbedingungen
        • Go back
        • Übersicht
        • Patentinformationsprodukte
        • Massendatensätze
        • Open Patent Services (OPS)
        • Leitfaden zur fairen Nutzung
    • Verfahrensbezogene Mitteilungen
    • Nützliche Links
      • Go back
      • Übersicht
      • Patentämter der Mitgliedstaaten
      • Weitere Patentämter
      • Verzeichnisse von Patentvertretern
      • Patentdatenbanken, Register und Patentblätter
      • Haftungsausschluss
    • Aboverwaltung
      • Go back
      • Übersicht
      • Anmelden
      • Einstellungen verwalten
      • Abmelden
    • Veröffentlichungen
      • Go back
      • Übersicht
      • Möglichkeiten der Einreichung
      • Standorte
    • Offizielle Feiertage
    • Glossar
    • RSS-Feeds
Board of Appeals
Decisions

Recent decisions

Übersicht
  • 2025 decisions
  • 2024 decisions
  • 2023 decisions
  1. Startseite
  2. Node
  3. T 1731/13 08-06-2018
Facebook X Linkedin Email

T 1731/13 08-06-2018

Europäischer Rechtsprechungsidentifikator
ECLI:EP:BA:2018:T173113.20180608
Datum der Entscheidung:
08 June 2018
Aktenzeichen
T 1731/13
Antrag auf Überprüfung von
-
Anmeldenummer
02013075.3
IPC-Klasse
H01L 33/00
C30B 25/02
C30B 29/40
H01L 21/20
Verfahrenssprache
EN
Verteilung
NO DISTRIBUTION (D)

Download und weitere Informationen:

Entscheidung in EN 365.95 KB
Alle Dokumente zum Beschwerdeverfahren finden Sie im Europäisches Patentregister
Bibliografische Daten verfügbar in:
EN
Fassungen
Nicht veröffentlicht
Bezeichnung der Anmeldung

A III nitride film and III nitride multilayer

Name des Anmelders
NGK Insulators, Ltd.
Name des Einsprechenden
-
Kammer
3.4.03
Leitsatz
-
Relevante Rechtsnormen
European Patent Convention Art 84 1973
European Patent Convention Art 111(1) 1973
European Patent Convention R 29(6) 1973
Rules of procedure of the Boards of Appeal Art 13(1)
Schlagwörter

Claims - main request and 2nd to 11th auxiliary requests

Claims - unclear characterization by parameters

Claims - clarity (no)

Late-filed request - 1st auxiliary request

Late-filed request - admitted (no)

Remittal to the department of first instance - (no)

Orientierungssatz
-
Angeführte Entscheidungen
T 1156/01
T 0412/02
T 0849/11
Anführungen in anderen Entscheidungen
-

Summary of Facts and Submissions

I. The appeal concerns the decision of the examining division refusing the European patent application No. 02 013 075 for lack of clarity (Article 84 EPC 1973) in relation to the former main request and the former first to fourth auxiliary requests and for lack of inventive step (Article 56 EPC 1973) in relation to the former main request and the former second auxiliary request.

II. Reference is made to the following document:

D6: |Koide Y et al., Effect of AlN Buffer Layer on AlGaN/alpha-Al2O3 Heteroepitaxial Growth by Metalorganic Vapor Phase Epitaxy, Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 27, No. 7, July 1988, pp. 1156-1161.|

III. At the oral proceedings before the board the appellant requested that the decision under appeal be set aside and that a patent be granted based on the main request filed with letter dated 9 March 2018, in the auxiliary based on the 1st auxiliary request filed during oral proceedings at 11:00, or the 2nd auxiliary request filed as 1st auxiliary request with letter dated 9 March 2018, or based on the 3rd - 11th auxiliary requests, filed as main Request and 1st - 8th auxiliary requests with the statement of the grounds of appeal dated 12 July 2013. Further auxiliarily, the appellant requested that the case be remitted to the department of first instance for further prosecution based on one of the above requests.

IV. The wording of respective claim 1 of the requests is as follows (board's labelling "(a)", ..., "(z)", "(aa)", ..., "(hh)"):

Main request:

"1. A III nitride multilayer comprising:

(a) a substrate (1),

(b) a III nitride underfilm (2) on the substrate (1), the underfilm (2) including Al element of 70 atomic percentages or over for all of the III elements, and

(c) an Al containing III nitride film (3) on the underfilm (2), the III nitride film (3) including Al element in lower Al content than the Al content of said III nitride underfilm by 10 atomic percentages or over, wherein

(d) a full width at half maximum in X-ray rocking curve of said III nitride film (3) is 800 seconds or below at (100) plane,

(e) a full width at half maximum in X-ray rocking curve of said III nitride film (3) is 200 seconds or below at (002) plane, and

(f) a thickness of the III nitride underfilm is within 0.5 to 3 mym,

(g) wherein the X-ray rocking curves are obtained using a Cu Kalpha1 line with a wavelength of 0.15405 nm selected by a channel cut Ge (220) monochromator and a narrow slit before the III nitride multilayer."

1st auxiliary request:

"1. A method of fabricating a III nitride multilayer comprising:

(h) providing a C-faced sapphire single crystal substrate (1),

(i) nitriding a main surface of the substrate (1);

(j) making a AlN underfilm (2) on the main surface of the substrate (1) by a CVD method at a temperature of 1200°C, a pressure of 15 Torr, and a ratio of TMA:NH3 = 1:450 for 120 minutes, and

(k) forming an Al0.1Ga0.9N film (3) on the underfilm (2) by the CVD method at a temperature of 1050°C, a pressure of 100 Torr, and a ratio of TMA:TMG:NH3 = 1:9:15000 for 60 minutes, wherein

(l) a surface roughness Ra in a range of 5 mym**(2)of the AlN underfilm is 0.2 nm;

(m) a thickness of the AlN underfilm is 2 µm; and

(n) a thickness of the Al0.1Ga0.9N film is 2 µm."

2nd auxiliary request:

"1. A III nitride multilayer comprising:

(o) a C-faced sapphire single crystal substrate (1) having a nitrided main surface,

(p) a AlN underfilm (2) on the main surface of the substrate (1), the underfilm (2), and

(q) an Al0.1Ga0.9N film (3) on the underfilm (2), wherein

(r) a full width at half maximum in X-ray rocking curve of said AlN underfilm (2) is 50 seconds at (002) plane,

(s) a full width at half maximum in X-ray rocking curve of said Al0.1 Ga0.9N film (3) is 450 seconds at (100) plane,

(t) a full width at half maximum in X-ray rocking curve of said Al0.1Ga0.1N film (3) is 120 seconds at (002) plane, and

(u) a surface roughness Ra in a range of 5 mym**(2)of the AlN underfilm is 0.2 nm;

(v) a thickness of the AlN underfilm is 2 mym,

(w) a thickness of the Al0.1Ga0.9N film is 2 mym,

(x) wherein the X-ray rocking curves are obtained using a Cu Kalpha1 line with a wavelength of 0.15405 nm selected by a channel cut Ge (220) monochromator and a narrow slit before the III nitride multilayer."

3rd auxiliary request:

Claim 1 of the 3rd auxiliary request differs from claim 1 of the main request in that feature (g) is deleted.

4th auxiliary request:

Claim 1 of the 4th auxiliary request differs from claim 1 of the 3rd auxiliary request in that the following feature is added:

(y) "the III nitride underfilm is made at a temperature within 1100 - 1250°C".

5th auxiliary request:

Claim 1 of the 5th auxiliary request is identical to claim 1 of the 3rd auxiliary request.

6th auxiliary request:

Claim 1 of the 6th auxiliary request is identical to claim 1 of the 4th auxiliary request.

7th auxiliary request:

Claim 1 of the 7th auxiliary request differs from claim 1 of the 3rd auxiliary request in that feature (a) is replaced by the following feature:

(z) "a C-faced sapphire single crystal substrate (1)".

8th auxiliary request:

Claim 1 of the 8th auxiliary request is identical to claim 1 of the 7th auxiliary request.

9th auxiliary request:

"1. A method of fabricating a III nitride multilayer comprising:

(aa) providing a substrate (1),

(bb) making a III nitride underfilm (2) on the substrate (1), the underfilm (2) including Al element of 70 atomic percentages or over for all of the III elements, and

(cc) forming an Al containing III nitride film (3) on the underfilm (2), the III nitride film (3) including Al element in lower Al content than the Al content of said III nitride underfilm by 10 atomic percentages or over, wherein

(dd) a full width at half maximum in X-ray rocking curve of said III nitride film (3) is set to 800 seconds or below at (100) plane,

(ee) a full width at half maximum in X-ray rocking curve of said III nitride film (3) is set to 200 seconds or below at (002) plane, and

(ff) a thickness of the III nitride underfilm is within 0.5 to 3 mym."

10th auxiliary request:

Claim 1 of the 10th auxiliary request differs from claim 1 of the 9th auxiliary request in that feature (bb) is replaced by the following feature:

(gg) "making a III nitride underfilm (2) on the substrate (1) at a temperature of 1100°C - 1250°C, the underfilm (2) including Al element of 70 atomic percentages or over for all of the III elements, and".

11th auxiliary request:

Claim 1 of the 11th auxiliary request differs from claim 1 of the 9th auxiliary request in that feature (aa) is replaced by the following feature:

(hh) "providing a C-faced sapphire single crystal substrate (1)".

V. The appellant argued essentially as follows:

(a) Main request, 2nd to 11th auxiliary requests - clarity

The definition of the invention in terms of the claimed full widths at half maximum of the X-ray rocking curves defined a structural feature, namely the crystal qual­ity of the III nitride film. Even if it were assumed that the invention was defined in terms of a result to be achieved, such a definition was considered allowable in the present case.

Moreover, the method of measuring the X-ray rocking curve was defined in greater detail in claim 1 of the main request, in particular using feature (g). The thickness of the III nitride film was only relevant for the X-ray rocking curve if the film was very thin. As the skilled person knew that the thickness of the III nitride layer was larger than the penetration depth of the X-rays (100 Å), that thickness was not essential and did not need to be mentioned in claim 1 of the main request.

Furthermore, claim 1 of the 2nd auxiliary request defined the details of the embodiment described in the description of the application in order to address any objections as to lack of clarity.

(b) Procedural matters

The filing of the 1st auxiliary request was a reaction to the new objection by the board communicated with the summons to the oral proceedings. There was no reason to file the request earlier as the examining division's objection that the former claims contained a "result to be achieved" was not justified. Since all conditions of the fabrication of the III nitride multilayer were specified in claim 1 of the 1st auxiliary request, it was evident that the features relating to the values of the full width at half maximum of the relevant rocking curves could be removed from the claim without violating Article 123(2) EPC.

The 1st auxiliary request should therefore be admitted into the appeal proceedings. In fact, since the issue of compliance of claim 1 of the 1st auxil­iary request with Article 123(2) EPC was not dealt with by the examining division, the case should be remitted to the department of first instance so that the issue could be decided there.

Reasons for the Decision

1. Main request, 2nd to 11th auxiliary requests - clarity

1.1 Article 84 EPC 1973 stipulates that the claims define the matter for which protection is sought and that they must, inter alia, be clear.

1.2 In the decision under appeal the examining division held that the respective independent claims of the requests pending at the time were not clear (see points A-1, B, C-1, and D of the Reasons). In particular, the examining division was of the opinion that the features relating to the values of the full width at half maxi­mum (FWHM) of the relevant rocking curves were attempts to define the claimed subject-matter in terms of the result to be achieved, which was not allowable in the present case as it was possible to define the subject-matter in more concrete terms (see points A-1.1 and A-1.3 of the Reasons).

1.3 The board agrees with the appellant in that the fea­tures relating to the FWHM values of the relevant rocking curves are not objectionable as ­an attempt to define the in­ven­tion by a result to be achieved. Rather, these fea­tures, i. e. features (d) and (e) of claim 1 of the main request and the corresponding features of respective claim 1 of the 2nd to 11th auxiliary requests, are an attempt to characterize the claimed product by parameters, name­ly the full widths at half maximum of the respec­tive rocking curves. In partic­ular, by specifying that the parame­ters are within certain value ranges, it is attempted to define struc­tural features of the claimed III nitride film/underfilm by providing quanti­tative measures of the crystal quality of the film, as detailed below.

Whether the skilled person is enabled to perform - without undue burden - essentially all the embodiments covered by the claimed invention, i. e. achieve the claimed crystal quality for all claimed composi­tions of the III nitride film/underfilm, is a different matter con­cerning compliance with the requirement of suffi­ciency of the disclosure (Article 83 EPC 1973).

1.4 However, when the invention is defined by a parameter, the requirement of clarity of the claim is only ful­filled when it is clear from the claim itself when being read by the person skilled in the art exact­ly how the parameter is to be determined. This implies, as a rule, that the method of measuring the parameter and the conditions of measurement having an influence on the value of the parameter have to be indicated in the claim, either expressly or - if appropriate - by way of reference to the description in accordance to Rule 29(6) EPC 1973. Such indication would only be super­fluous if the skilled person knew from the outset which method and conditions to employ (see T 1156/01, Reason 2.3; T 412/02, Reasons 5.7 to 5.9; T 849/11, Reason 1.1).

1.5 In the present case the critical features relate to rocking curves measured in relation to particular crys­tal planes of the claimed III nitride crystal film/underfilm. In order to obtain a rocking curve, an x-ray spectrometer is used in the "omega-mode", i. e. in such a way as to record the diffraction in­ten­sity as a function of the angle of rotation ("rocking") of the specimen crystal (here: the III nitride crystal film/underfilm). The FWHM­ of the rocking curve provides a measure of the crys­tal qual­ity, that is, the variation in lattice spacing and/or orientation of the crystal­lites consti­tuting the crys­tal film. It contains thus contributions due to the orientation distribu­tion and the spacing distribution of the crystal­lites.

The precise shape of the rocking curve and its FWHM value depend not only on the spectral charac­teristics of the x-ray beam, but also on the beam geometry and the actual experimental set-up of the x-ray spectro­meter. The incoming beam width, which may be influenced by an aperture plate with a slit in front of the X-ray source and/or the monochromator and by the distances between the x-ray source, the mono­chro­mator and the crys­tal film, deter­mines for example, which crystal­lites of the crystal film contribute to the rocking curve. On the other hand, an aperture plate with a slit may also be used in front of the detector to single out a given lattice spacing so that the FWHM of the rocking curve pre­dominantly reflects the orien­ta­tion distribu­tion of the crystallites of the crystal film. This is illustrated in the top two diagrams relating to the "omega-mode" in Figure 3 of document D6, in which it is shown that rocking curves of Al0.1Ga0.9N films with and with­out an AlN buffer layer have smaller FWHM values when receiving slits of 60mym, respectively 100mym, are used to limit the diffracted X-rays compared to using an open detector window.

1.6 The appellant attempted to address the issue of lack of clarity by introducing feature (g) into claim 1 of the main re­quest. According to that feature the X-ray rocking curves are obtained using a Cu Kalpha1 line with a wave­length of 0.15405 nm selected by a channel cut Ge (220) monochromator.

The board acknowledges that the spectral character­istics of the x-ray beam used for determining the rocking curves of the claimed III nitride film are thus mentioned in claim 1 of the main request.

In relation to the beam geometry it is merely mentioned in claim 1 of the main request that a "narrow slit" is used before the III nitride multilayer (see feature (g)). However, the precise value of the slit width is not specified in the claim and there is no indication at all concerning the set-up of the x-ray spectrometer, in particular concerning the presence of other aperture plates and the distances between the x-ray source, the monochromator, the crystal film and the detector.

For the reasons mentioned above these measurement con­ditions have an influence on the measured FWHM value of the rocking curves of the III nitride film. Moreover, these conditions are not considered to be standardized in the relevant technical field of semi­conductor physics.

In view of the above claim 1 of the main request is not clear, contrary to the requirements of Article 84 EPC 1973.

1.7 Features (s) and (t) of claim 1 of the 2nd auxiliary request differ from features (d) and (e) of claim 1 of the main request in that the precise composition of the III nitride film and particular values rather than ranges of the FWHM of the rocking curves are specified. That claim also contains the additional feature (r) in which the FWHM value of the rocking curve of the claimed AlN underfilm is specified.

Features (d) and (e) of claim 1 of the main request are also contained in claim 1 of the 3rd to 8th auxiliary requests. Features (dd) and (ee) of independent method claim 1 of the 9th auxiliary request correspond to features (d) and (e) of independent device claim 1 of the main request, respectively. Features (dd) and (ee) of claim 1 of the 9th auxiliary request are also contained in claim 1 of the 10th and 11th auxiliary requests.

However, in none of these claims there is any indica­tion of the relevant measurement conditions concerning the beam geometry and experimental set-up of the x-ray spectro­meter for determining the FWHM of the various rocking curves, either. Therefore, for same reasons as those indicated above in relation to claim 1 of the main request, the respective claim 1 of the 2nd to 11th auxiliary requests also lacks clarity, contrary to the requirements of Article 84 EPC 1973.

2. Procedural matters

2.1 The 1st auxiliary request was filed during oral pro­ceedings before the board. It constitutes therefore an amendment to the appellant's case after it has filed its grounds of appeal and may be admitted into the proceedings and considered at the board's discretion (Article 13(1) RPBA).

In accordance with established case law, the board exercises its discretion to admit a late-filed request into the pro­ceedings considering whether there are sound reasons for filing the request at a late stage in the proceedings and whether - prima facie - the request overcomes the outstanding objections under the EPC and does not give rise to new objections (Case Law of the Boards of Appeal of the EPO, 8th edition 2016, sections IV.E. 4.4.1 and 4.4.2).

2.2 The appellant argued that the filing of the 1st auxil­iary request was a reaction to the new objection by the board communicated with the summons to the oral pro­ceedings.

The board notes that the features relating FWHM values of the rocking curves had already been objected to as being unclear during the examination proceedings and that this objection was a ground of refusal (see point 1.2 above). Hence, the appellant had reasons to file - at least on an auxiliary basis - a claim such as claim 1 of 1st auxiliary request, in which these offending features are deleted, already during the examination proceedings or at the latest with the grounds of appeal.

In the summons to oral proceedings the board had merely provided a different reasoning (compared to that of the exam­ining division) why it regarded these same features as unclear. The board does not consider this as a new development objectively occasioning the filing of the 1st auxiliary request.

At any rate, there is no valid reason for not filing the 1st auxiliary request at least with the letter dated 9 March 2018 filed in preparation of the oral proceedings before the board, but only submitting this request as the third attempt to overcome the clarity objection during the oral proceedings.

Hence, the board is of the opinion that there are no sound reasons for filing the 1st auxiliary request at such a late stage during the appeal proceedings.

2.3 The board accepts that the deletion of the features relating FWHM values of the rocking curves overcomes the clarity objection against these features.

However, the deleted features were the only features defining the III nitride film which had originally been claimed according to original claim 1, the broadest claim of the original set of claims. Moreover, it would appear from the original description that these fea­tures were presented as essential in achieving the ob­ject of the invention of improving the crystallinity of the III nitride film (see paragraphs [0004], [0013], [0014], and [0021] of the description of the applica­tion as filed). This gives immediately rise to the question whether the deletion of the features amounts to a broadening of the claimed subject-matter which has no basis in the application as filed.

The appellant argued that, since all conditions of the fabrication of the III nitride multilayer were speci­fied in claim 1 of the 1st auxiliary request, it was evident that the features relating to the FWHM values of the relevant rocking curves could be removed from the claim without extending beyond the original application documents.

The board is of the opinion that the fabrication of the III nitride film and underfilm using chemical vapour deposition (CVD) is a highly complex process and that various process conditions which are not specified in claim 1 of the 1st auxiliary request, such as which carrier gas and flow rates are used, the precise arrangement of the substrate in the reaction chamber, and the speed of the temperature ramping, may well have an influence on the crystal quality of the crystal films and thus on the FWHM values of the rocking curves.

Hence, the 1st auxil­iary request gives rise to new objections under Article 123(2) EPC.

2.4 The appellant argued further that since the issue of compli­ance of claim 1 of the 1st auxil­iary request with Article 123(2) EPC was not dealt with by the examining division, the case should be remitted to the department of first instance so that the issue could be decided there.

In view of the considerations mentioned above under points 2.1 to 2.4 the board is of the opinion that the 1st auxil­iary request should not be admitted into the appeal proceed­ings. Hence, it would be inappro­priate to remit the case to the examining division for considera­tion of that request.

Otherwise, every request filed during oral proceedings and raising new issues would have to be remitted for consideration of these issues by the first instance. This cannot be the correct approach already for the reason that necessity for remittal is a reason not to admit a request at this stage of the procedure.

2.5 In view of the above, the 1st auxiliary request is not admitted into the appeal proceedings (Article 13(1) RPBA) and the case is not remitted to the department of first instance under Article 111(1) EPC 1973.

3. Conclusion

Since the main request and the 2nd to 11th auxiliary requests are not allowable, the 1st auxiliary request is not admitted into the appeal proceedings and the case is not remitted to the department of first instance, the appeal is to be dis­missed (Article 111(1) EPC 1973).

Entscheidungsformel

Order

For these reasons it is decided that:

The appeal is dismissed.

Footer - Service & support
  • Unterstützung
    • Aktualisierungen der Website
    • Verfügbarkeit der Online-Dienste
    • FAQ
    • Veröffentlichungen
    • Verfahrensbezogene Mitteilungen
    • Kontakt
    • Aboverwaltung
    • Offizielle Feiertage
    • Glossar
Footer - More links
  • Jobs & Karriere
  • Pressezentrum
  • Single Access Portal
  • Beschaffung
  • Beschwerdekammern
Facebook
European Patent Office
EPO Jobs
Instagram
EuropeanPatentOffice
Linkedin
European Patent Office
EPO Jobs
EPO Procurement
X (formerly Twitter)
EPOorg
EPOjobs
Youtube
TheEPO
Footer
  • Impressum
  • Nutzungsbedingungen
  • Datenschutz
  • Barrierefreiheit