Plateforme de veille technologique
Exploiter la pleine puissance des données sur les brevets
Le 4 décembre, l'OEB a officiellement rendu publique sa plateforme de veille technologique (TIP) à l’occasion du Patent Knowledge Forum. Dans le cadre de cette nouvelle série, nous allons découvrir la plateforme TIP et communiquer des informations qui vous aideront à libérer la puissance des données brevets.
La plateforme de veille technologique (TIP ou Technology Intelligence Platform) est l'outil de prochaine génération de l'OEB pour le traitement, l'analyse et la visualisation des données brevets. Elle permet aux chercheurs, entreprises, innovateurs et simples utilisateurs de procéder à des analyses avancées sur les données brevets et d’obtenir des informations pour prendre des décisions éclairées. Conçue pour être conviviale, la plateforme de veille technologique est basée sur un navigateur et offre un accès gratuit aux données de grande qualité de l’OEB, notamment la recherche EP en texte intégral et PATSTAT. Les vastes ressources computationnelles de la plateforme permettent d’analyser et de traiter des données brevets, ainsi que de les intégrer à d’autres sources.
Démontrer de quoi la plateforme de veille technologique est capable
Pendant le lancement, une démonstration en direct a permis de se familiariser avec l’interface de la plateforme et ses applications possibles. Au cours de cette démonstration, la plateforme TIP a été utilisée pour analyser l’évolution des domaines technologiques brevetés au fil du temps. Même si les utilisateurs de PATSTAT connaissent déjà l'extraction de telles données, la plateforme de veille technologique améliore l'expérience en tirant parti de Jupyter Labs, une référence en matière d'analyse de données. Les utilisateurs peuvent utiliser l’intégralité de l’écosystème Python, profitant de bibliothèques tierces pour récupérer et traiter des données brevets.
Fig. 1 : Aperçu des activités de dépôt de brevets par secteur technologique en Europe en 2022
Grâce à ses puissantes options de visualisation, la plateforme permet aux spécialistes de créer des présentations structurées des données analysées qui aideront les décideurs, entreprises et chercheurs à identifier les tendances, à faire preuve d’efficacité dans l’allocation des ressources et à prendre des décisions éclairées.
Visitez la page du Patent Knowledge Forum, en lien ci-dessous, pour voir cette démonstration en direct et écouter les témoignages de bêta-testeurs de la plateforme.
Offrir un plus grand accès aux connaissances
Le carnet utilisé dans la démonstration en direct est disponible dans le dépôt GitHub dédié en lien ci-dessous. Les utilisateurs et utilisatrices pourront ainsi répliquer l’analyse ou l’adapter à leurs propres besoins.
Cet article Patent Knowledge News est le premier de la série qui s’intéresse aux diverses applications de la plateforme de veille technologique dans l'analyse des données brevets. Chaque volet mettra en lumière une étude spécifique, démontrant la polyvalence de la plateforme et la profondeur des informations qu’elle peut fournir. Toutes les études présentées seront accessibles via le dépôt GitHub, garantissant ainsi que les utilisateurs tirent directement profit de ces exemples pratiques.
Premiers pas avec la plateforme TIP
Vous voulez en savoir plus sur la plateforme de veille technologique ? Visitez la page web qui lui est consacrée (en lien ci-dessous) pour profiter d’un cours de formation et libérer tout le potentiel des données brevets.
Mots-clés : traitement des données, visualisation, analyse sur les données brevets
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