Skip to main content Skip to footer
HomeHome
 
  • Accueil
  • Recherche de brevets

    Connaissances des brevets

    Accéder à nos bases de données brevets et à nos outils de recherche.

    Consulter la vue d'ensemble 

    • Vue d'ensemble
    • Informations techniques
      • Vue d'ensemble
      • Espacenet - recherche de brevets
      • Serveur de publication européen
      • Recherche EP en texte intégral
    • Informations juridiques
      • Vue d'ensemble
      • Registre européen des brevets
      • Bulletin européen des brevets
      • Plan du site de l'Identifiant européen de la jurisprudence
      • Observations de tiers
    • Informations commerciales
      • Vue d'ensemble
      • PATSTAT
      • IPscore
      • Rapports d’analyse sur les technologies
    • Données
      • Vue d'ensemble
      • Technology Intelligence Platform
      • Données liées ouvertes EP
      • Jeux de données de masse
      • Services Internet
      • Couverture, codes et statistiques
    • Plateformes technologiques
      • Vue d'ensemble
      • Le plastique en pleine mutation
      • Innovation autour de l'eau
      • Innovation spatiale
      • Des technologies pour lutter contre le cancer
      • Technologies de lutte contre les incendies
      • Technologies énergétiques propres
      • Lutte contre le coronavirus
    • Ressources utiles
      • Vue d'ensemble
      • Il s'agit de votre première visite ? Qu'est-ce que l'information brevets ?
      • Information brevets de l'Asie
      • Centres d'information brevets (PATLIB)
      • Patent Translate
      • Patent Knowledge News
      • Commerce et statistiques
      • Informations relatives au brevet unitaire pour la connaissance des brevets
    Image
    Plastics in Transition

    Rapport d’analyse sur les technologies de gestion des déchets plastiques

  • Demander un brevet

    Demander un brevet

    Informations pratiques concernant les procédures de dépôt et de délivrance.

    Consulter la vue d'ensemble 

    • Vue d'ensemble
    • Voie européenne
      • Vue d'ensemble
      • Guide du brevet européen
      • Oppositions
      • Procédure orale
      • Recours
      • Brevet unitaire et juridiction unifiée du brevet
      • Validation nationale
      • Requête en extension/validation
    • Voie internationale (PCT)
      • Vue d'ensemble
      • Guide euro-PCT : procédure PCT devant l'OEB
      • Décisions et communiqués
      • Dispositions et ressources PCT
      • Requête en extension/validation
      • Programme de partenariat renforcé
      • Traitement accéléré des demandes PCT
      • Patent Prosecution Highway (PPH)
      • Formations et manifestations
    • Demandes nationales
    • Trouver un mandataire agréé
    • Services MyEPO
      • Vue d'ensemble
      • Comprendre nos services
      • Accéder aux services
      • Effectuer un dépôt
      • Intervenir sur un dossier
      • Disponibilité de services en ligne
    • Formulaires
      • Vue d'ensemble
      • Requête en examen
    • Taxes
      • Vue d'ensemble
      • Taxes européennes (CBE)
      • Taxes internationales (PCT)
      • Taxes du brevet unitaire
      • Paiements des taxes et remboursements
      • Avertissement

    up

    Découvrez comment le brevet unitaire peut améliorer votre stratégie de PI

  • Informations juridiques

    Informations juridiques

    Droit européen des brevets, Journal officiel et autres textes juridiques.

    Consulter la vue d'ensemble 

    • Vue d'ensemble
    • Textes juridiques
      • Vue d'ensemble
      • Convention sur le brevet européen
      • Journal officiel
      • Directives
      • Système d'extension/de validation
      • Accord de Londres
      • Droit national relatif à la CBE
      • Unitary patent system
      • Mesures nationales relatives au brevet unitaire
    • Pratiques juridictionnelles
      • Vue d'ensemble
      • Colloque des juges européens de brevets
    • Consultations d'utilisateurs
      • Vue d'ensemble
      • Consultations en cours
      • Consultations fermées
    • Harmonisation matérielle du droit des brevets
      • Vue d'ensemble
      • The Tegernsee process
      • Groupe B+
    • Convergence des pratiques
    • Options pour les mandataires agréés
    Image
    Law and practice scales 720x237

    Restez à jour des aspects clés de décisions choisies grâce à notre publication mensuelle "Abstracts of decisions”

  • Actualités et événements

    Actualités et événements

    Nos dernières actualités, podcasts et événements.

    Consulter la vue d'ensemble 

     

    • Vue d'ensemble
    • Actualités
    • Événements
    • Prix de l'inventeur européen
      • Vue d'ensemble
      • Ce que signifie demain
      • À propos du prix
      • Catégories et prix
      • Rencontrez les finalistes
      • Proposer un inventeur
      • European Inventor Network
      • La cérémonie 2024
    • Young Inventor Prize
      • Vue d'ensemble
      • À propos du prix
      • Appel à candidatures
      • Le jury
      • Le monde, réinventé
    • Centre de presse
      • Vue d'ensemble
      • Patent Index et statistiques
      • Recherche dans le centre de presse
      • Rappel des faits
      • Droits d'auteur
      • Contact presse
      • Demande de rappel
      • Service d'alerte par courriel
    • Coup de projecteur sur l'innovation et la protection par brevets
      • Vue d'ensemble
      • Water-related technologies
      • CodeFest
      • Green tech in focus
      • Research institutes
      • Women inventors
      • Brevets et société
      • Technologies spatiales et satellitaires
      • L'avenir de la médecine
      • Science des matériaux
      • Communications mobiles
      • Brevets dans le domaine des biotechnologies
      • Patent classification
      • Technologies numériques
      • La fabrication de demain
      • Books by EPO experts
    • Podcast "Talk innovation"

    podcast

    De l’idée à l’invention : notre podcast vous présente les actualités en matière de technologies et de PI

  • Formation

    Formation

    L'Académie européenne des brevets – point d'accès pour vos formations

    Consulter la vue d'ensemble 

    • Vue d'ensemble
    • Activités de formation et parcours d'apprentissage
      • Vue d'ensemble
      • Activités de formation
      • Parcours d’apprentissage
    • EEQ et CEAB
      • Vue d'ensemble
      • EEQ – Examen européen de qualification
      • CEAB – Certificat européen d’administration des brevets
      • CSP – Programme de soutien aux candidats
    • Ressources par centre d'intérêt
      • Vue d'ensemble
      • Délivrance des brevets
      • Transfert et diffusion de technologies
      • Application des droits de brevet et contentieux en matière de brevets
    • Ressources de formation par profil
      • Vue d'ensemble
      • Entreprise et responsables PI
      • Candidats à l'EEQ et CEAB
      • Juges, juristes et parquets
      • Bureaux nationaux et autorités de PI
      • Conseils en brevets et assistants juridiques
      • Universités, centres de recherche et centre de transfert de technologie
    Image
    Patent Academy catalogue

    Un vaste éventail d’opportunités de formation dans le catalogue de l’Académie européenne des brevets

  • Découvrez-nous

    Découvrez-nous

    En savoir plus sur notre travail, nos valeurs, notre histoire et notre vision.

    Consulter la vue d'ensemble 

    • Vue d'ensemble
    • L'OEB en bref
    • Les 50 ans de la Convention sur le brevet européen
      • Vue d'ensemble
      • Official celebrations
      • Member states’ video statements
      • 50 Leading Tech Voices
      • Athens Marathon
      • Concours d’art collaboratif pour enfants
    • Fondements juridiques et États membres
      • Vue d'ensemble
      • Fondements juridiques
      • États membres de l'Organisation européenne des brevets
      • Etats autorisant l’extension
      • Etats autorisant la validation
    • Conseil d'administration et organes auxiliaires
      • Vue d'ensemble
      • Communiqués
      • Calendrier
      • Documentation
      • Le Conseil d'administration de l'Organisation européenne des brevets
    • Principes et stratégie
      • Vue d'ensemble
      • Mission, vision et valeurs
      • Plan stratégique 2028
      • Vers une nouvelle normalité
    • Présidence et Comité de direction
      • Vue d'ensemble
      • Président António Campinos
      • Comité consultatif de direction
    • Sustainability at the EPO
      • Vue d'ensemble
      • Environmental
      • Social
      • Governance and Financial sustainability
    • Services et activités
      • Vue d'ensemble
      • Nos services et notre structure
      • Qualité
      • Consultation de nos utilisateurs
      • Coopération européenne et internationale
      • Académie européenne des brevets
      • Économiste en chef
      • Bureau de médiation
      • Signaler des actes répréhensibles
    • Observatoire des brevets et des technologies
      • Vue d'ensemble
      • Acteurs de l'innovation
      • Politique et financement
      • Outils
      • À propos de l'Observatoire
    • Achats
      • Vue d'ensemble
      • Plan d’achats prévisionnel
      • La passation de marchés avec l'OEB
      • Procédures d'achat
      • Politique d'achat durable
      • Comment s‘enregistrer pour appels à la concurrence électroniques et signatures électroniques
      • Portail des achats
      • Facturation
      • Conditions générales
      • Appels à la concurrence archivés
    • Portail de transparence
      • Vue d'ensemble
      • Généralités
      • Capital humain
      • Capital environnemental
      • Capital organisationnel
      • Capital social et relationnel
      • Capital économique
      • Gouvernance
    • Statistics and trends
      • Vue d'ensemble
      • Statistics & Trends Centre
      • Patent Index 2024
      • EPO Data Hub
      • Clarification on data sources
    • Historique de l'OEB
      • Vue d'ensemble
      • Années 1970
      • Années 1980
      • Années 1990
      • Années 2000
      • Années 2010
      • Années 2020
    • La collection d'art de l'OEB
      • Vue d'ensemble
      • La collection
      • Let's talk about art
      • Artistes
      • Médiathèque
      • What's on
      • Publications
      • Contact
      • Espace Culture A&T 5-10
      • "Longue nuit"
    Image
    Patent Index 2024 keyvisual showing brightly lit up data chip, tinted in purple, bright blue

    Suivez les dernières tendances technologiques grâce à notre Patent Index

 
Website
cancel
en de fr
  • Language selection
  • English
  • Deutsch
  • Français
Main navigation
  • Homepage
    • Go back
    • Êtes-vous novice en matière de brevets ?
  • Êtes-vous novice en matière de brevets ?
    • Go back
    • Votre entreprise et les brevets
    • Pourquoi les brevets existent-ils ?
    • Quelle est votre grande idée ?
    • Êtes-vous prêts ?
    • Ce qui vous attend
    • Comment déposer une demande de brevet
    • Mon idée est-elle brevetable?
    • Êtes-vous le premier ?
    • Quiz sur les brevets
    • Vidéo sur le brevet unitaire
  • Recherche de brevets
    • Go back
    • Vue d'ensemble
    • Informations techniques
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Espacenet - recherche de brevets
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Bases de données des offices nationaux et régionaux
        • Global Patent Index (GPI)
        • Notes de version
      • Serveur de publication européen
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Notes de version
        • Tableau de correspondance pour les demandes Euro-PCT
        • Fichier d’autorité EP
        • Aide
      • Recherche EP en texte intégral
    • Informations juridiques
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Registre européen des brevets
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Notes de version archive
        • Documentation sur le Registre
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Couverture de données pour lien profonds
          • Registre fédéré
          • Événements du Registre
      • Bulletin européen des brevets
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Télécharger les fichiers du Bulletin
        • Recherche dans le Bulletin EP
        • Help
      • Plan du site de l'Identifiant européen de la jurisprudence
      • Observations de tiers
    • Informations commerciales
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • PATSTAT
      • IPscore
        • Go back
        • Notes de version
      • Rapports d’analyse sur les technologies
    • Données
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Technology Intelligence Platform
      • Données liées ouvertes EP
      • Jeux de données de masse
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Manuals
        • Listages de séquences
        • Données nationales en texte intégral
        • Données du Registre européen des brevets
        • Données bibliographiques mondiale de l'OEB (DOCDB)
        • Données EP en texte intégral
        • Données mondiales de l'OEB relatives aux événements juridiques (INPADOC)
        • Données bibliographiques EP (EBD)
        • Décisions des chambres de recours de l'OEB
      • Services Internet
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Services brevets ouverts (OPS)
        • Serveur de publication européen (service web)
      • Couverture, codes et statistiques
        • Go back
        • Mises à jour hebdomadaires
        • Mises à jour régulières
    • Plateformes technologiques
      • Go back
      • Le plastique en pleine mutation
        • Go back
        • Overview
        • Récupération des déchets plastiques
        • Recyclage des déchets plastiques
        • Matières plastiques de substitution
      • Vue d'ensemble
      • L'innovation dans les technologies de l'eau
        • Go back
        • Overview
        • Eau salubre
        • Protection contre l'eau
      • Innovation spatiale
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Astronautique
        • Observation spatiale
      • Des technologies pour lutter contre le cancer
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Prévention et détection précoce
        • Diagnostics
        • Thérapies
        • Bien-être et suivi
      • Technologies de lutte contre les incendies
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Détection et prévention des incendies
        • Extinction des incendies
        • Matériel de protection
        • Technologies de restauration après incendie
      • Technologies énergétiques propres
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Énergies renouvelables
        • Industries à fortes émissions de carbone
        • Stockage de l’énergie et autres technologies complémentaires
      • Lutte contre le coronavirus
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Vaccins et thérapies
          • Go back
          • Overview
          • Vaccins
          • Aperçu des traitements candidats contre la Covid-19
          • Antiviral et traitement symptomatique candidats
          • Acides nucléiques et anticorps de lutte contre le coronavirus
        • Diagnostics et analyses
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Diagnostics - essais basés sur une protéine ou un acide nucléique
          • Protocoles analytiques
        • Informatique
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Bioinformatique
          • Informatique médicale
        • Les technologies de la nouvelle normalité
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Appareils, matériel et équipements
          • Procédures, actions et activités
          • Technologies numériques
        • Les inventeurs en lutte contre le coronavirus
    • Ressources utiles
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Il s'agit de votre première visite ? Qu'est-ce que l'information brevets ?
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Définitions de base
        • Classification des brevets
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Classification coopérative des brevets (CPC)
        • Familles de brevets
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Famille de brevets simple DOCDB
          • Famille de brevets élargie INPADOC
        • À propos des événements juridiques
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Système de classification INPADOC
      • Information brevets de l'Asie
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • China (CN)
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Taipei Chinois (TW)
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Inde (IN)
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
        • Japon (JP)
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Corée (KR)
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Facts and figures
          • Grant procedure
          • Numbering system
          • Useful terms
          • Searching in databases
        • Fédération de Russie (RU)
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Facts and figures
          • Numbering system
          • Searching in databases
        • Useful links
      • Centres d'information brevets (PATLIB)
      • Patent Translate
      • Patent Knowledge News
      • Commerce et statistiques
      • Informations relatives au brevet unitaire pour la connaissance des brevets
  • Demander un brevet
    • Go back
    • Vue d'ensemble
    • Voie européenne
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Guide du brevet européen
      • Oppositions
      • Procédure orale
        • Go back
        • Calendrier des procédures orales
          • Go back
          • Accès du public à la procédure de recours
          • Accès du public à la procédure d’opposition
          • Calendrier des procédures orales
          • Directives techniques
      • Recours
      • Brevet unitaire et juridiction unifiée du brevet
        • Go back
        • Brevet unitaire
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Cadre juridique
          • Principales caractéristiques
          • Comment obtenir un brevet unitaire
          • Coût d'un brevet unitaire
          • Traduction et compensation
          • Date de début
          • Introductory brochures
        • Vue d'ensemble
        • Juridiction unifiée du brevet
      • National validation
      • Requête en extension/validation
    • Demandes internationales
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Guide euro-PCT
      • Entrée dans la phase européenne
      • Décisions et communiqués
      • Dispositions et ressources PCT
      • Requête en extension/validation
      • Programme de partenariat renforcé
      • Traitement accéléré des demandes PCT
      • Patent Prosecution Highway (PPH)
        • Go back
        • Programme Patent Prosecution Highway (PPH) – Présentation
      • Formations et manifestations
    • Voie nationale
    • Services MyEPO
      • Go back
      • Overview
      • Comprendre nos services
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Exchange data with us using an API
          • Go back
          • Notes de version
      • Accéder aux services
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Notes de version
      • Effectuer un dépôt
        • Go back
        • Effectuer un dépôt
        • Que faire si nos services de dépôt en ligne sont indisponibles ?
        • Notes de version
      • Intervenir sur un dossier
        • Go back
        • Notes de version
      • Disponibilité de services en ligne
    • Taxes
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Taxes européennes (CBE)
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Décisions et communiqués
      • Taxes internationales (PCT)
        • Go back
        • Réduction des taxes
        • Taxes pour les demandes internationales
        • Décisions et communiqués
        • Vue d'ensemble
      • Taxes du brevet unitaire
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Décisions et avis
      • Paiements des taxes et remboursements
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Modes de paiement
        • Premiers pas
        • FAQs et autre documentation
        • Informations techniques concernant les paiements groupés
        • Décisions et communiqués
        • Notes de version
      • Avertissement
    • Formulaires
      • Go back
      • Requête en examen
      • Vue d'ensemble
    • Trouver un mandataire agréé
  • Informations juridiques
    • Go back
    • Vue d'ensemble
    • Textes juridiques
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Convention sur le brevet européen
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Archive
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Documentation sur la révision de la CBE en 2000
            • Go back
            • Vue d'ensemble
            • Conférence diplomatique pour la révision de la CBE
            • Travaux préparatoires
            • Nouveau texte
            • Dispositions transitoires
            • Règlement d'exécution de la CBE 2000
            • Règlement relatif aux taxes
            • Ratifications et adhésions
          • Travaux Préparatoires CBE 1973
      • Journal officiel
      • Directives
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Directives CBE
        • Directives PCT de l'OEB
        • Directives relatives au brevet unitaire
        • Cycle de révision des directives
        • Consultation results
        • Résumé des contributions des utilisateurs
        • Archive
      • Système d'extension/de validation
      • Accord de Londres
      • Droit national relatif à la CBE
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Archive
      • Système du brevet unitaire
        • Go back
        • Travaux préparatoires to UP and UPC
      • Mesures nationales relatives au brevet unitaire
    • Pratiques juridictionnelles
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Colloque des juges européens de brevets
    • Consultations d'utilisateurs
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Consultations en cours
      • Consultations fermées
    • Harmonisation matérielle du droit des brevets
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • The Tegernsee process
      • Groupe B+
    • Convergence des pratiques
    • Options pour les mandataires agréés
  • Actualités et événements
    • Go back
    • Vue d'ensemble
    • Actualités
    • Événements
    • Prix de l'inventeur européen
      • Go back
      • The meaning of tomorrow
      • Vue d'ensemble
      • À propos du prix
      • Catégories et prix
      • Découvrir les inventeurs
      • Proposer un inventeur
      • European Inventor Network
        • Go back
        • 2024 activities
        • 2025 activities
        • Rules and criteria
        • FAQ
      • La cérémonie 2024
    • Young Inventors Prize
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • À propos du prix
      • Appel à candidatures
      • Le jury
      • The world, reimagined
      • La cérémonie 2025
    • Centre de presse
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Patent Index et statistiques
      • Recherche dans le centre de presse
      • Rappel des faits
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • L'Office européen des brevets
        • Questions/réponses sur les brevets en lien avec le coronavirus
        • Questions/réponses sur les brevets portant sur des végétaux
      • Droits d'auteur
      • Contact presse
      • Formulaire - Demande de rappel
      • Service d'alerte par courriel
    • Coup de projecteur
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Technologies liées à l'eau
      • CodeFest
        • Go back
        • CodeFest Spring 2025 on classifying patent data for sustainable development
        • Vue d'ensemble
        • CodeFest 2024 sur l'IA générative
        • CodeFest 2023 sur les plastiques verts
      • Green tech in focus
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • About green tech
        • Renewable energies
        • Energy transition technologies
        • Building a greener future
      • Research institutes
      • Women inventors
      • Brevets et société
      • Technologies spatiales et satellitaires
        • Go back
        • Brevets et technologies spatiales
        • Vue d'ensemble
      • L'avenir de la médecine
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Technologies médicales et cancer
        • Personalised medicine
      • Science des matériaux
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Nanotechnologie
      • Communications mobiles
      • Biotechnologie
        • Go back
        • Biotechnologies rouges, blanches ou vertes
        • Vue d'ensemble
        • Rôle de l’OEB
        • Inventions brevetables
        • Les inventeurs dans le domaine des biotechnologies
      • Classification
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Nanotechnology
        • Climate change mitigation technologies
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • External partners
          • Updates on Y02 and Y04S
      • Technologies numériques
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • A propos des TIC
        • Matériel et logiciel
        • Intelligence artificielle
        • Quatrième révolution industrielle
      • Fabrication additive
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • À propos de la FA
        • Innover avec la FA
      • Books by EPO experts
    • Podcast
  • Formation
    • Go back
    • Vue d'ensemble
    • Activités de formation et parcours d'apprentissage
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Activités de formation : types et formats
      • Parcours d’apprentissage
    • EEQ et CEAB
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • EEQ – Examen européen de qualification
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Compendium
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Épreuve F
          • Épreuve A
          • Épreuve B
          • Épreuve C
          • Épreuve D
          • Examen préliminaire
        • Candidats reçus
        • Archives
      • CEAB – Certificat européen d’administration des brevets
      • CSP – Programme de soutien aux candidats
    • Ressources de formation par centre d'intérêt
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Délivrance des brevets
      • Transfert et diffusion de technologies
      • Application des droits de brevet et contentieux en matière de brevets
    • Ressources de formation par profil
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Enterprises et responsables IP
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Innovation case studies
          • Go back
          • Overview
          • SME case studies
          • Technology transfer case studies
          • Études de cas : technologies à forte croissance
        • Inventor's handbook
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Introduction
          • Disclosure and confidentiality
          • Novelty and prior art
          • Competition and market potential
          • Assessing the risk ahead
          • Proving the invention
          • Protecting your idea
          • Building a team and seeking funding
          • Business planning
          • Finding and approaching companies
          • Dealing with companies
        • Best of search matters
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Tools and databases
          • EPO procedures and initiatives
          • Search strategies
          • Challenges and specific topics
        • Support for high-growth technology businesses
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Business decision-makers
          • IP professionals
          • Stakeholders of the Innovation Ecosystem
      • Candidats à l'EEQ et CEAB
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Casse-têtes sur l'épreuve F
        • Questions D quotidiennes
        • Examen européen de qualification - Guide de préparation
        • CEAB
      • Juges, juristes et parquets
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Compulsory licensing in Europe
        • Compétences des juridictions européennes pour les litiges en matière de brevets
      • Offices nationaux et administrations de la PI
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Parcours d'apprentissage pour les examinateurs de brevets des offices nationaux
        • Parcours d'apprentissage pour agents des formalités et assistants juridiques
      • Conseils en brevets et assistants juridiques
      • Universités, centres de recherche et Offices de Transfert Technologique
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Cadre modulaire d'enseignement de la propriété intellectuelle (MIPEF)
        • Programme de stages professionnels "Pan-European Seal"
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Pour les étudiants
          • Pour les universités
            • Go back
            • Vue d'ensemble
            • Ressources éducatives sur la propriété intellectuelle
            • Adhésion universitaire
          • Nos jeunes professionnel(le)s
          • Programme de développement professionnel
        • Programme de recherche académique (ARP)
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Projets de recherche finalisés
          • Projets de recherche en cours
        • Kit d'enseignement sur la PI
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Télécharger des modules
        • Manuel de conception de cours sur la propriété intellectuelle
        • PATLIB Knowledge Transfer to Africa
          • Go back
          • Initiative sur le transfert de connaissances vers l'Afrique (KT2A)
          • Activités fondamentales dans le cadre de l'initiative KT2A
          • Jumelage réussi dans le cadre de l'initiative KT2A : le centre PATLIB de Birmingham et l'université des sciences et technologies du Malawi
  • Découvrez-nous
    • Go back
    • Vue d'ensemble
    • L'OEB en bref
    • Les 50 ans de la CBE
      • Go back
      • Official celebrations
      • Vue d'ensemble
      • Member states’ video statements
        • Go back
        • Albania
        • Austria
        • Belgium
        • Bulgaria
        • Croatia
        • Cyprus
        • Czech Republic
        • Denmark
        • Estonia
        • Finland
        • France
        • Germany
        • Greece
        • Hungary
        • Iceland
        • Ireland
        • Italy
        • Latvia
        • Liechtenstein
        • Lithuania
        • Luxembourg
        • Malta
        • Monaco
        • Montenegro
        • Netherlands
        • North Macedonia
        • Norway
        • Poland
        • Portugal
        • Romania
        • San Marino
        • Serbia
        • Slovakia
        • Slovenia
        • Spain
        • Sweden
        • Switzerland
        • Türkiye
        • United Kingdom
      • 50 Leading Tech Voices
      • Athens Marathon
      • Concours d’art collaboratif pour enfants
    • Fondements juridiques et États membres
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Fondements juridiques
      • Etats membres
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Etats membres selon la date d'adhésion
      • Etats autorisant l’extension
      • Etats autorisant la validation
    • Conseil d'administration et organes auxiliaires
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Communiqués
        • Go back
        • 2024
        • Vue d'ensemble
        • 2023
        • 2022
        • 2021
        • 2020
        • 2019
        • 2018
        • 2017
        • 2016
        • 2015
        • 2014
        • 2013
      • Calendrier
      • Documentation
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Documents du Comité restreint
      • Conseil d'administration
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Composition
        • Représentants
        • Règlement intérieur
        • Collège des commissaires aux comptes
        • Secrétariat
        • Organes
    • Principes et stratégie
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Mission, vision et valeurs
      • Plan stratégique 2028
        • Go back
        • Levier 1 : Les personnes
        • Levier 2 : Les technologies
        • Levier 3 : Des produits et services de grande qualité
        • Levier 4 : Les partenariats
        • Levier 5 : La pérennité financière
      • Vers une nouvelle normalité
      • Protection des données et confidentialité
    • Présidence et Comité de direction
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • A propos du Président
      • Comité consultatif de direction
    • La pérennité à l'OEB
      • Go back
      • Overview
      • Pérennité environnementale
        • Go back
        • Overview
        • Inventions environnementales inspirantes
      • Pérennité sociale
        • Go back
        • Overview
        • Inventions sociales inspirantes
      • Gouvernance et pérennité financière
    • Achats
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Plan d’achats prévisionnel
      • La passation de marchés avec l'OEB
      • Procédures d'achat
      • Publications du système d'acquisition dynamique
      • Politique d'achat durable
      • Sur appels à la concurrence électroniques
      • Facturation
      • Portail des achats
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Signature électronique des contrats
      • Conditions générales
      • Appels à la concurrence archivés
    • Services et activités
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Nos services et notre structure
      • Qualité
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Fondements
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • La Convention sur le brevet européen
          • Directives relatives à l'examen
          • Notre personnel
        • Comment stimuler la qualité
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • État de la technique
          • Système de classification
          • Outils
          • Des procédés gages de qualité
        • Produits et services
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Recherches
          • Examens
          • Oppositions
          • Amélioration continue
        • La qualité grâce au travail en réseau
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Engagement des utilisateurs
          • Coopération
          • Enquêtes visant à évaluer le degré de satisfaction
          • Groupes de parties prenantes sur l'assurance de la qualité
        • Charte sur la qualité des brevets
        • Plan d'action pour la qualité
        • Quality dashboard
        • Statistiques
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Recherche
          • Examen
          • Opposition
        • Gestion intégrée à l'OEB
      • Consultation de nos utilisateurs
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Comité consultatif permanent auprès de l'OEB
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Objectifs
          • Le SACEPO et ses groupes de travail
          • Réunions
          • Espace délégués
        • Enquêtes
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Méthodologie détaillée
          • Services de recherche
          • Services d'examen, actions finales et publication
          • Services d'opposition
          • Services de Formalités
          • Service clientèle
          • Services de dépôt
          • Gestion des grands comptes
          • Site web de l'OEB
          • Archives
      • Notre charte du service clientèle
      • Coopération européenne et internationale
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Coopération avec les Etats membres
          • Go back
          • Vue d'ensemble
        • Coopération bilatérale avec les États non membres
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Le système de validation
          • Programme de partenariat renforcé
        • Organisations internationales, coopération tripartite et IP5
        • Coopération avec les organisations internationales en dehors du système de PI
      • Académie européenne des brevets
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Partenaires
      • Économiste en chef
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Études économiques
      • Bureau de l'Ombud
      • Signaler des actes répréhensibles
    • Observatoire des brevets et des technologies
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Innovation contre le cancer
      • Acteurs de l'innovation
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Start-ups et PME
      • Politique et financement
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Programme de financement de l'innovation
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Nos études sur le financement de l'innovation
          • Initiatives de l'OEB pour les demandeurs de brevet
          • Soutien financier pour les innovateurs en Europe
        • Brevets et normes
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Publications
          • Patent standards explorer
      • Outils
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Deep Tech Finder
      • À propos de l'Observatoire
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Programme de travail
    • Transparency portal
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Généralités
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Annual Review 2023
          • Go back
          • Overview
          • Foreword
          • Executive summary
          • 50 years of the EPC
          • Strategic key performance indicators
          • Goal 1: Engaged and empowered
          • Goal 2: Digital transformation
          • Goal 3: Master quality
          • Goal 4: Partner for positive impact
          • Goal 5: Secure sustainability
        • Annual Review 2022
          • Go back
          • Vue d'ensemble
          • Foreword
          • Executive summary
          • Goal 1: Engaged and empowered
          • Goal 2: Digital transformation
          • Goal 3: Master quality
          • Goal 4: Partner for positive impact
          • Goal 5: Secure sustainability
      • Capital humain
      • Capital environnemental
      • Capital organisationnel
      • Capital social et relationnel
      • Capital économique
      • Gouvernance
    • Statistics and trends
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Statistics & Trends Centre
      • Patent Index 2024
        • Go back
        • Insight into computer technology and AI
        • Insight into clean energy technologies
        • Statistics and indicators
          • Go back
          • European patent applications
            • Go back
            • Key trend
            • Origin
            • Top 10 technical fields
              • Go back
              • Computer technology
              • Electrical machinery, apparatus, energy
              • Digital communication
              • Medical technology
              • Transport
              • Measurement
              • Biotechnology
              • Pharmaceuticals
              • Other special machines
              • Organic fine chemistry
            • All technical fields
          • Applicants
            • Go back
            • Top 50
            • Categories
            • Women inventors
          • Granted patents
            • Go back
            • Key trend
            • Origin
            • Designations
      • Data to download
      • EPO Data Hub
      • Clarification on data sources
    • Historique
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • 1970s
      • 1980s
      • 1990s
      • 2000s
      • 2010s
      • 2020s
    • Collection d'art
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • La collection
      • Let's talk about art
      • Artistes
      • Médiathèque
      • What's on
      • Publications
      • Contact
      • Espace Culture A&T 5-10
        • Go back
        • Catalyst lab & Deep vision
          • Go back
          • Irene Sauter (DE)
          • AVPD (DK)
          • Jan Robert Leegte (NL)
          • Jānis Dzirnieks (LV) #1
          • Jānis Dzirnieks (LV) #2
          • Péter Szalay (HU)
          • Thomas Feuerstein (AT)
          • Tom Burr (US)
          • Wolfgang Tillmans (DE)
          • TerraPort
          • Unfinished Sculpture - Captives #1
          • Deep vision – immersive exhibition
          • Expositions précédentes
        • The European Patent Journey
        • Sustaining life. Art in the climate emergency
        • Next generation statements
        • Open storage
        • Cosmic bar
      • "Longue nuit"
  • Chambres de recours
    • Go back
    • Vue d'ensemble
    • Décisions des chambres de recours
      • Go back
      • Décisions récentes
      • Vue d'ensemble
      • Sélection de décisions
    • Communications des chambres de recours
    • Procédure
    • Procédures orales
    • À propos des chambres de recours
      • Go back
      • Vue d’ensemble
      • Président des chambres de recours
      • Grande Chambre de recours
        • Go back
        • Vue d’ensemble
        • Pending referrals (Art. 112 EPC)
        • Decisions sorted by number (Art. 112 EPC)
        • Pending petitions for review (Art. 112a EPC)
        • Decisions on petitions for review (Art. 112a EPC)
      • Chambres de recours techniques
      • Chambre de recours juridique
      • Chambre de recours statuant en matière disciplinaire
      • Praesidium
        • Go back
        • Vue d’ensemble
    • Code de conduite
    • Plan de répartition des affaires
      • Go back
      • Vue d’ensemble
      • Technical boards of appeal by IPC in 2025
      • Archive
    • Liste annuelle des affaires
    • Communications
    • Rapport annuel
      • Go back
      • Vue d’ensemble
    • Publications
      • Go back
      • Résumés des décisions
    • La Jurisprudence des Chambres de recours
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Archive
  • Service et ressources
    • Go back
    • Vue d'ensemble
    • Mises à jour du site Internet
    • Disponibilité de services en ligne
      • Go back
      • Vue d'ensemble
    • FAQ
      • Go back
      • Vue d'ensemble
    • Publications
    • Commande
      • Go back
      • Connaissances des Brevets - Produits et Services
      • Vue d'ensemble
      • Conditions générales
        • Go back
        • Vue d'ensemble
        • Produits d'informations brevets
        • Donnés brutes
        • Services brevets ouverts (OPS)
        • Charte d'utilisation équitable
    • Notifications relatives aux procédures
    • Liens utiles
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Offices des brevets des Etats membres
      • Autres offices des brevets
      • Répertoires de conseils en propriété industrielle
      • Bases de données, registres et gazettes des brevets
      • Disclaimer
    • Centre d'abonnement
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • S'abonner
      • Gérer ses préférences
      • Se désabonner
    • Contactez-nous
      • Go back
      • Vue d'ensemble
      • Options de dépôt
      • Localisations
    • Jours fériés
    • Glossaire
    • Flux RSS
Board of Appeals
Decisions

Recent decisions

Vue d'ensemble
  • 2025 decisions
  • 2024 decisions
  • 2023 decisions
  1. Accueil
  2. Node
  3. T 1005/96 08-12-1999
Facebook X Linkedin Email

T 1005/96 08-12-1999

Identifiant européen de la jurisprudence
ECLI:EP:BA:1999:T100596.19991208
Date de la décision
08 December 1999
Numéro de l'affaire
T 1005/96
Requête en révision de
-
Numéro de la demande
88850342.2
Classe de la CIB
B23B 27/14
Langue de la procédure
EN
Distribution
DISTRIBUTED TO BOARD CHAIRMEN (C)

Téléchargement et informations complémentaires:

Décision en EN 30.07 KB
Les documents concernant la procédure de recours sont disponibles dans le Registre européen des brevets
Informations bibliographiques disponibles en:
EN
Versions
Non publié
Titre de la demande

Method for chip removing machining

Nom du demandeur
SECO TOOLS AB
Nom de l'opposant
Widia GmbH
Chambre
3.2.06
Sommaire
-
Dispositions juridiques pertinentes
European Patent Convention Art 56 1973
European Patent Convention Art 113(1) 1973
Mot-clé
Inventive step (yes)
Exergue
-
Décisions citées
G 0004/92
Décisions dans lesquelles la présente décision est citée
-

Summary of Facts and Submissions

I. The respondent is proprietor of European patent No.0 313 534.

Claim 1 as granted reads as follows:

"Method for chip removing machining, preferably turning or drilling, said method including simultaneous cutting by two separate cutting edges located on the same cutting insert (10), said cutting edges including a main cutting edge (13) carrying out a relatively seen rough machining and a further cutting edge (14) carrying out a relatively seen fine machining, the further cutting edge (14) being located behind the main cutting edge (13) seen in the feeding direction of the cutting insert (10),

characterised in that the cutting depth (h2) of the further cutting edge (14) is in the interval of 0.03 - 0.5. mm, and that said further cutting edge (14) is followed by a clearance surface in feeding direction, said clearance surface having a clearance angle ( ) in the interval of 0.250 - 20, said further cutting edge (14) carrying out the final machining."

II. The patent was opposed by the appellant on the grounds of lack of inventive step (Article 100(a) EPC).

The following state of the art was inter alia relied upon:

D2: DE-A-3 109 176

D3: DE-A-2 610 097

D11: EP-B-0 133 168.

III. The Opposition Division rejected the opposition by decision posted on 19 September 1996. It took the view that the subject-matter of claim 1 of the patent as granted differed from the disclosure of D2 in that the further cutting edge was followed by a clearance angle comprised in the interval of 0.250 to 20 and that it was not obvious to the skilled person to provide such a distinguishing feature in view of the remaining prior art documents and therefore an inventive step was necessary to arrive at the claimed chip removing method.

IV. On 19 November 1996 the appellant (opponent) lodged an appeal against this decision, the appeal fee having been paid the day before.

The statement of the grounds of appeal was filed on 10. January 1997.

During the written proceedings of the appeal the appellant filed the following documents:

D13: US-A-4 552 492 and

D14: Pages 6 and 7 of a catalogue "Drehwerkzeuge" of Sandwick Coromant, published in 1981.

V. In a communication dated 22 November 1999, issued together with the summons to attend oral proceedings, the Board expressed the provisional opinion that, when comparing the subject-matter of claim 1 of the patent in suit with the machining methods derivable from documents D2 or D11, the distinguishing feature appeared to be that the further cutting edge was followed by a clearance surface having an angle in the interval of 0.250 to 20, as was referred to by the Opposition Division. However, a clearance interval of 0.250. to 20 appeared to be implied by the cutting insert disclosed in D11.

It was also noted that document D13, cited for the first time during the appeal proceedings, appeared to be less relevant than the above cited prior art documents, so that the Board intended to disregard it pursuant to Article 114(2) EPC.

VI. Oral proceedings took place on 8 December 1999. As announced with letter of 5 November 1999, the appellant did not appear. In accordance with the provisions of Rule 71(2) EPC the oral proceedings were held in the absence of the appellant.

VII. The appellant (opponent) requested that the decision under appeal be set aside and the patent be revoked in its entirety.

The arguments submitted in support of that request can be summarised as follows:

When compared to the method for chip removing machining derivable from D2, the subject-matter of claim 1 was novel in that the clearance surface of the further cutting edge had a clearance angle between 0.25 to 2 .

However, considering the technical problems involved in the known machining method, it was clear that a reduction of friction was completely independent of the specific value of the clearance angle ( ) since any selected clearance angle avoided contact of the area of the cutting insert lying behind the cutting edge with the workpiece. Therefore, any angle greater that 0 would have met the above condition and therefore reduction of friction was not limited to the claimed ranges.

Consequently, no inventive step could be seen in the selection of a specific clearance angle range.

Furthermore, although the cutting inserts known from D2 or D3 did not have a clearance angle within the meaning of the patent in suit, the skilled person wanting to obviate the drawback arising from the friction of the clearance surface edge with the machined part of the workpiece, would find in document D11 a cutting insert with two separate cutting edges located on the same insert and that because of the round nosed second cutting edge an increasing clearance angle was present behind the cutting edge. Applying this teaching to the cutting insert of D2 or D3 would be an obvious choice to the skilled person, so that also for this reason the subject-matter of the granted claim 1 lacked an inventive step.

VIII. The respondent (patentee) contested the appellant's arguments and requested dismissal of the appeal.

The claimed method led to reduced tool wear and improved surface finish by the claimed combination of features, in particular the combination of the selected cutting depth and the clearance angle.

Due to the workpiece material elastically springing back behind the cutting nose, generally the clearance angle was chosen to be much larger than 2 - typically more than 7 - to avoid any contact of the clearance surface with the workpiece.

The insert disclosed in D2 did not have a clearance angle at all and this resulted from the specific use for machining rods or bars with very large lateral feeding movements. In view of the specific use of the insert, D2 did not suggest any other clearance angle value.

D3 in fact showed in the drawing a typical clearance angle of 7 or more, whereas D11 did not have a clearance surface at all. The late cited D13 only related to a cutting insert for dividing the chips and thereby diminishing the risk for vibrations.

Therefore, the combination of claimed method steps was neither disclosed in, nor suggested by the available documents and thus an inventive activity was necessary to arrive at the subject-matter of claim 1 of the patent in suit.

Reasons for the Decision

1. The appeal is admissible.

2. Late filed documents

2.1. The appellant introduced D13 essentially in support for the allegation that the claimed value of the cutting depth was known in connection with cutting inserts having main and secondary cutting edges. However, D13 concerns an insert for simultaneously removing a plurality of chips thereby improving chip disposal and at the same time reduces chatter. It neither relates to the particularities of rough and fine machining with the same insert nor to the problems of cutting depth and clearance angle involved in the present patent.

Therefore, as was already noted in the communication dated 22 October 1999, the Board disregards this late filed document pursuant to the provisions of Article 114(2) EPC because of lack of relevance.

2.2. Pages 6 and 7 of the catalogue (D14) Sandwick mentioned under section IV were filed to support the anticipation of a specific feature of an auxiliary request which was no longer relied upon by the respondent during the oral proceedings.

Also this document is disregarded pursuant to the provision of Article 114(2) EPC, because of lack of relevance.

3. Novelty

After examination of the cited prior art, the Board is satisfied that the subject-matter of Claim 1 is novel. Since novelty has not been in dispute during the opposition and appeal proceedings there is no need to expand in detail on this matter.

4. Inventive step

4.1. Document D3 acknowledged in the introductory part of the European patent in suit is considered the most suitable starting point for the assessment of inventive step. According to this document a main cutting edge is separated from a further cutting edge, both cutting edges being located on the same cutting insert. The main cutting edge carries out a rough machining. The further cutting edge located behind the main cutting edge in the feeding direction of the cutting insert simultaneously carries out a fine machining with a curve-nosed cutting corner. This corner is followed by a straight part (20) of the further cutting edge having a length greater than the value of the lateral feeding movement. This straight part (20) of the further cutting edge, extending parallel to the feed direction (or parallel to the axis of rotation of the workpiece) is intended to only remove the peaks that are created by the rough machining.

Consequently, there is neither a clearance angle at this straight part (20) following the curved nose of the further cutting edge, nor any further cutting depth setting because in the areas between the peaks the further cutting edge mainly carries out a polishing function. In so far a clearance angle is shown this concerns the extension indicated by reference numeral 21. in Figure 1 of D3.

4.2. The drawback of this kind of further cutting edge is that the straight part of the cutting edge lying parallel to the axis of rotation generates heat to a greater extent than a true cutting action and consequently negatively affects the life of the cutting insert.

Consequently, starting from this prior art document, the technical problem to be solved by the present invention is to provide a method which overcomes this disadvantage by preventing the friction on the machined surface and in which the method simultaneously carries out rough and fine chip removing machining.

This problem is solved by the features stated in claim 1.

4.3. As was submitted by the respondent during the oral proceedings, cutting a workpiece involves a mechanical cutting and deformation process resulting from the penetration of the cutting edge into the workpiece material. This creates in the front of the nose of the cutting edge a primary shearing zone forming the actual area of the formation of chip. In a secondary shearing zone located before the cutting surface and at the clearance surface immediately following the nose of the cutting tool in the feed direction, friction forces are applied between the tool and the workpiece which plastically and elastically deform the workpiece. At the clearance surface immediately following the nose of the tool, the workpiece material springs back due to the pressure release in this area. The Board follows the respondent in that such behaviour of the workpiece material is well-known to the skilled person.

On the basis of this knowledge, a plastically and at the same time resiliently deformed zone of the workpiece is thus created after the nose of each cutting edge of the cutting insert according to the preamble of claim 1 based on the prior art disclosed in D3. At the nose of the cutting edge, at the beginning of the free cutting angle the resilient zone of the workpiece springs back to a released state since there is no longer a cutting force or friction force working on the material. In accordance with the explanation provided by the respondent usually a large clearance angle (more than 7 ) from the nose is chosen to avoid the material that has sprung back coming into contact with the cutting nose extending on the clearance surface. If, on the contrary, there is no clearance angle, the edge of the clearance surface lying behind the cutting nose remains in contact with the machined surface, so that high friction is induced. Between these limits, the invention as defined in the method of claim 1 shows that an additional cutting step at the very beginning of the clearance surface takes place when both the further cutting depth and the clearance angle of the clearance surface are in the intervals specified in the characterising part of claim 1.

4.4. The main issue arising in the present case is whether the subject-matter of claim 1 is inventive over the teachings of the prior art disclosed in documents D2, D3 and D11.

The appellant argued that any clearance angle greater than 0 would avoid the drawback due to the friction so that there is no inventive step in claim 1 in view of D2 alone. Furthermore, he submitted that no exercise of inventive skill would have been required by combining the known cutting insert according to Figure 5 of D2 or of Figure 1 of D3 with a clearance angle according to the insert disclosed in Figure 2 of D11.

4.5. Document D2 shows in Figure 5 a method in which a bar peeling insert is provided with two main cutting edges and corresponding two second cutting edges. The distance b - representing the cutting depth h2- between the main cutting edge and its associated second cutting edge is determined by the relationship b = 0.1 to 0.5 + K, in which the K value is a function of the hardness of the material as shown in Figure 6.

In view of the intended use of this known insert, the skilled person using this cutting insert would not choose a small cutting depth -for instance 0,15 mm- for which the hardness value is very high -about 340 HV because such conditions would lead to unnecessary wear of the second cutting edge. On the contrary, in view of the graph according to Fig.6, he would choose a K value falling within the zone defined as not being hardened ("unverfestigte Zone"), namely the part of the graph for which the K value is above 0.4 mm. The consequential b value is in the interval of 0.5 to 0.9. mm, which is fully outside the claimed interval.

Furthermore, the second cutting edge is parallel to the axis of the workpiece, so that the clearance value is 0. . There are no suggestions derivable from D2 to change the position of the cutting edge since it is essential that the second cutting edge be parallel to the axis of rotation in order to obtain a finished smooth surface (see page 5, penultimate paragraph) when applying the intended large lateral feeding movement. Therefore, since the cutting conditions according to D2 are completely different from those of the patent in suit, there is no lead to either select the cutting depth or the clearance angle within the ranges claimed.

4.6. The same applies to the teaching of D3 according to which, as mentioned in section 3.1, the further cutting edge must be parallel to the axis of rotation of the workpiece in order to remove the peaks created by the rough machining of the main cutting edge.

4.7. D11 discloses a cutting insert for length turning, inwards turning and outwards transversal turning with a main cutting edge, a minor cutting edge and a transversal turning edge. The transversal turning edge is arranged to cut and break coarse but short chips and the main cutting edge is at the same time arranged to cut fine and continuous chips to obtain a good surface fineness during the transversal turning operation.

However, there is no specific cutting depth or the value of a clearance angle derivable from this document. There is therefore no hint regarding the values specified in the characterising part of claim 1.

4.8. Furthermore, because of the different uses as intended respectively, the skilled person had no reason to combine teaching of the documents D2, D3 or D11. However, even if the skilled person had thought of combining an insert according to Figure 1 of D3 or Figure 5 of D2 with the Figure 2 of D11, he would not have arrived at the subject-matter of the patent in suit because no suggestions are derivable from either D2 or D11 in respect of a particular combination of cutting depth and clearance angle values leading to improved conditions for the additional cutting operation when taking account of the release of material at the beginning of the clearance surface.

4.9. The other documents cited but no longer relied upon by the appellant do not disclose more than what was already known from D3, D2 or D11 and therefore the Board sees no reason to discuss these citations in detail.

4.10. The appellant further argued that any clearance angle of the second cutting edge on the right side point (17) of the clearance surface greater that 0 would be enough to perform the claimed method. There would be no more friction of the cutting edge on the workpiece.

It is true that when applying clearance angles greater than 2 there will be no more friction in the insert according to claim 1. However, as was convincingly argued by the respondent, in the small clearance interval according to claim 1, a fine cutting step takes place which, in view of the resilient behaviour of the workpiece material provides a better quality of the machined surface.

5. The present decision was based on evidence known and dealt with in the written proceedings. The explanations given by the appellant during oral proceedings on the plastic and resilient deformation of the workpiece in the cutting area and the action at the very beginning of the clearance surface during cutting, are thus also based on facts and evidence which have already been put forward during the written procedure. More particularly, they support the argument submitted in response to the statement of grounds of appeal, that the claimed interval 0.25 to 2 was the most appropriate to achieve a fine surface finishing without generating friction, so that they do not constitute new grounds or evidence to which the appellant had not had an opportunity to present his comment. In these circumstances, and in line with the decision of the Enlarged Board of Appeal G 4/92 (OJ 1994, 149), the requirements of Article 113(1) EPC are satisfied even if the appellant, chose not to appear at the oral proceedings.

6. Summarising, the subject-matter of the method according to claim 1 of the patent as granted involves an inventive step (Article 56 EPC).

The Board concludes that the grounds for opposition pursuant to Article 100 EPC do not prejudice the maintenance of the European patent as granted.

Dispositif

ORDER

For these reasons it is decided that:

The appeal is dismissed.

Footer - Service & support
  • Soutien
    • Mises à jour du site Internet
    • Disponibilité de services en ligne
    • FAQ
    • Publications
    • Notifications relatives aux procédures
    • Contact
    • Centre d'abonnement
    • Jours fériés
    • Glossaire
Footer - More links
  • Centre de presse
  • Emploi et carrière
  • Single Access Portal
  • Achats
  • Chambres de recours
Facebook
European Patent Office
EPO Jobs
Instagram
EuropeanPatentOffice
Linkedin
European Patent Office
EPO Jobs
EPO Procurement
X (formerly Twitter)
EPOorg
EPOjobs
Youtube
TheEPO
Footer
  • Adresse bibliographique
  • Conditions d’utilisation
  • Protection des données
  • Accessibilité